Вышедшие номера
Интегральная оценка качества дифракционного изображения в оптической литографии на основе строгого решения задачи дифракции плоской волны на щели
Рудницкий А.С., Сердюк В.М.1
1Институт прикладных физических проблем им. А.Н. Севченко Белорусского государственного университета, Минск, Республика Беларусь
Email: serdyukvm@bsu.by
Поступила в редакцию: 1 ноября 2011 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2012 г.

Предложен метод интегральной оценки качества оптического дифракционного изображения, который использует несколько скалярных параметров, определяемых посредством интегрального сравнения двух функций на поверхности формирования изображения. Первая функция представляет собой реальное распределение плотности энергии электрического поля на данной поверхности и может моделироваться решением соответствующей строгой или приближенной дифракционной задачи формирования изображения, а в качестве второй функции берется требуемое распределение энергии на указанной поверхности. Метод продемонстрирован на примере оценки качества изображений, получаемых при бесконтактной печати с фотошаблона в оптической литографии, где функция изображения вычисляется с помощью известного строгого решения задачи дифракции плоской волны на щели в проводящем экране.
  1. Броудай И., Мерей Дж. Физические основы микротехнологии. М.: Мир, 1985. C. 249--348
  2. Levinson H.J. Principles of Lithography. Washington: SPIE Press, 2010. 504 p
  3. Mack C.A. Fundamental Principles of Optical Lithography: The Science of Microfabrication. London: Wiley, 2007. 534 p
  4. Lin B.J. Optical Lithography: Here is Why. Bellingham: SPIE Press, 2010. 473 p
  5. Yeung M.S., Barouch E. // IEEE Electr. Device L. 2000. Vol. 21. N 9. P. 433--435
  6. Yeung M.S. // IEEE T. Semicond. M. 2000. Vol. 13. N 1. P. 24--33
  7. Борн М., Вольф Э. Основы оптики. М.: Наука, 1973. 721 с
  8. Бейтс Р., Мак-Доннелл М. Восстановление и реконструкция изображений. М.: Мир, 1989. 333 c
  9. Wong A.K., Neureuther A.R. // IEEE T. Semicond. M. 1995. Vol. 8. N 4. P. 419--431
  10. Lucas K.D., Tanabe H., Strojwas A.J. // J. Opt. Soc. Am. A. 1996. Vol. 13. N 11. P. 2187--2199
  11. Литвиненко Л.Н., Просвирнин С.Л. Спектральные операторы рассеяния в задачах дифракции волн на плоских экранах. Киев: Наукова думка, 1984. C. 144--174
  12. Сердюк В.М. // ЖТФ 2005. Т. 75. Вып. 8. С. 113--120
  13. Rudnitsky A.S., Serdyuk V.M. // Prog. Electromag. Res. 2008. Vol. PIER 86. P. 277--290
  14. Serdyuk V.M., Titovitsky J.A. // Prog. Electromagn. Res. M. 2010. Vol. 12. P. 205--216
  15. Physical Properties of Polymers: Handbook. Part IX / Ed. by J.E. Mark. Berlin: Springer, 2007. P. 965--979

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.