"Письма в журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Фазовая неоднородность структуры углеситалла
Кукин В.Н.1,2, Боргардт Н.И.1,2, Агафонов А.В.1,2, Кузнецов В.О.1,2
1Московский государственный институт электронной техники (технический университет)
2ЗАО "ТРИ Карбон", Москва
Email: kukin@lemi.miee.ru
Поступила в редакцию: 16 марта 2004 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2004 г.

Используя методики электронной микроскопии --- электронографический анализ, спектроскопию энергетических потерь быстрых электронов, светлопольные и темнопольные изображения с дифракционным контрастом и высокоразрешающие изображения, исследованы особенности структуры углеситалла с разрешением вплоть до атомарного и получены данные о его фазовом составе.
  • Волков Г.М., Калугин В.И., Сысков К.И. // Докл. АН СССР. 1968. Т. 183. N 2. С. 396--397
  • Татаринов В.Ф., Золкин П.И. // Огнеупоры и техническая керамика. 1999. N 3. С. 37--38
  • Татаринов В.Ф., Виргильев В.С., Евдокимов С.Е. // Перспективные материалы. 1999. N 4. С. 41--45
  • Oberlin A. // Carbon. 2002. V. 40. N 1. P. 7--24
  • Monthioux M., Smith B.W., Burteaux B. et al. // Carbon. 2001. V. 39. N 8. P. 1251--1272
  • Kovalevski V.V., Buseck P.R., Cowley J.M. // Carbon. 2001. V. 39. N 2. P. 243--256
  • Миркин Л.И. Рентгеноструктурный анализ. Индицирование электронограмм. М.: Наука, 1981. 494 с
  • Powder diffraction file. Inоrganic. Publication SMF-27 / Published by the JCPDS-International Center for Diffraction Data. Pennsylvania, 1977
  • Mirkarimi P.B., McCarty K.F., Medlin D.L. // Materials Science and Engeneering. 1997. R21. P. 47--100
  • Verwoerd W.S. // Thin Solid Films. 1997. V. 300. P. 78--83
  • Feldermann H., Ronning C., Hofsass H. et al. // J. Appl. Phys. 2001. V. 90. N 7. P. 3248--3254
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.