Журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Определение состава, толщины и оценка неоднородности состава по толщине субмикронных пленок на основе Y 1Ba 2Cu 3O y методом рентгеноспектрального микроанализа
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия 
Поступила в редакцию: 13 апреля 1993 г.
Выставление онлайн: 20 октября 1993 г.
- Дорохов А.Н., Рояк А.Я., Мазалов Л.Н. и др. Изв. СО АН СССР. Сер. Хим. 1980. Т. 2. N 1. С. 135--137
- Гимельфарб Ф.А. Рентгеноспектральный микроанализ слоистых материалов. М.: Металлургия, 1986
- Pouchou J.L., Pichoir F. Rech. Aerosp. 1984. Vol. 3. P. 13--39
- Казаков С.В., Конников С.Г., Третьяков В.В. Изв. АН СССР. 1991. Т. 55. N 8
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
