Издателям
Вышедшие номера
Квантовая химия ковалентных кристаллов: алмаз, кремний и карбид кремния
Моливер С.С.1
1Филиал Московского государственного университета им. М.В.Ломоносова, Ульяновск, Россия
Поступила в редакцию: 27 июля 1995 г.
Выставление онлайн: 19 июня 1996 г.

  • Эварестов Р.А. Квантово-химические методы в теории твердого тела. Л. (1982)
  • Pople J.A., Beveridge D.L. Approximate Molecular Orbital Theory. McGraw-Hill (1970)
  • McWeeny R., Sutcliffe B.T. Methods of Molecular Quantum Mechanics. Academic Press (1969) (Мак-Вини Р., Сатклиф Б. Квантовая механика молекул. М. (1972). )
  • Moliver S.S. J. Phys.: Cond. Matter 4, \it 49, 9971 (1992); Моливер С.С. ФТТ 33, \it 3, 929 (1991)
  • Shluger A. Theoret. Chim. Acta (Berl.) 66, 355 (1985)
  • Bingham R.C., Dewar M.J.S., Lo D.H. J. Amer. Chem. Soc. 97, \it 6, 1285 (1975)
  • Harker A.H., Larkins F.P. J. Phys. C 12, \it 13, 2487, 2497 (1979)
  • Harrison W.A. Electronic Structure and Properties of Solids. The Physics of the Chemical Bond. W.H.Freeman and Company (1980) (Харрисон У. Электронная структура и свойства твердых тел. Физика химической связи. М. (1983). Т. 1, 2 ); Rolfing M., Kruger P., Pollmann J. Phys. Rev. B 48, \it 24, 17 791 (1993)
  • Ridley B.K., Quantum processes in semiconductors. Clarendon Press. Oxford (1982) (Ридли Б. Квантовые процессы в полупроводниках. М. (1986). )
  • Dannefaer S., Mascher P., Kerr D. Phys. Rev. Lett. 56, \it 20, 2195 (1986)
  • Тележкин В.А., Толпыго К.Б. ФТП 16, \it 8, 1337 (1982)
  • Stoneham A.M. Mater. Sci. Eng. B 11, \it 1--4, 211 (1992)
  • Huang Hanchen, Ghoniem Nasr. J. Nucl. Mater. 212--215, Pt. A, 148 (1991)
  • Watkins G.D. Semicond. Sci. Technol. 6, \it 10, B111 (1991)
  • Orlando R., Dovesi R., Azavant P., Harrison N.M., Saunders V.R. J. Phys.: Cond. Mather 6, \it 41, 8573 (1994)
  • Lannoo M., Bourgoin J. Point Defects in Semiconductors. I. Theoretical Aspects. Springer-Verlag (1981) (Ланно М., Бургуэн Э. Точечные дефекты в полупроводниках. Теория. М. (1984) ); Bourgoin J., Lannoo M. Point Defects in Semiconductors. II. Experimental Aspects. Springer-Verlag (1983) (Бургуэн Ж., Ланно М. Точечные дефекты в полупроводниках. Экспериментальные аспекты. М. (1985). )
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.