Анализируются электрофизические свойства углеродного нанопористого композита, состоящего из наноалмазов и наноразмерной пироуглеродной матрицы. Показано, что степенная зависимость электросопротивления от толщины слоя пироуглерода D в двойных логарифмических координатах претерпевает излом при D=1 Angstrem. Установлено, что температурная зависимость электросопротивления нанокомпозита описывается экспонентой с показателем степени 1/4 как для необлученных образцов, так и для образцов, облученных быстрыми нейтронами. Это характерно для прыжковой проводимости с переменной длиной прыжка в случае сильной локализации в системах с полупроводниковой проводимостью при наличии локального беспорядка. С нарастанием флюенса нейтронов сопротивление исследуемого материала изменяется весьма существенно (на несколько сотен процентов) и при этом немонотонно. Этот результат связывается с трансформацией структуры графитоподобной матрицы и возможными фазовыми переходами графит--алмаз. Работа выполнена при поддержке Министерства образования и науки (госконтракты N 14.518.11.7028 и 16.518.11.7034) и гранта РФФИ N 10-02-00576.
F. Jelzka, J. Wrachtrup. Phys. Status Solidi A 203, 13, 3207 (2006)
F. Hilser, G. Burkard. Phys. Rev. B 86, 12 (2012)
Y.-R. Chang, H.-Y. Lee, K. Chen, C.-C. Chang, D.-S. Tsai, C.-C. Fu, T.-S. Lim, Y.-K. Tzeng, C.-Y. Fang, C.-C. Han, H.-C. Chang, W. Fann. Nature Nanotechnol. 3, 5, 284 (2008)
D.D. Awschalom, R. Epstein, R. Hanson. Sci. Am. 297, 4, 84 (2007)
P. Neumann, R. Kolesov, B. Naydenov, J. Beck, F. Rempp, M. Steiner, V. Jacques, G. Balasubramanian, M.L. Markham, D.J. Twitchen, S. Pezzagna, J. Meijer, J. Twamley, F. Jelezko, J. Wrachtrup. Nature Phys. 6, 4, 249 (2010)
T.D. Ladd, F. Jelezko, R. Laflamme, Y. Nakamura, C. Monroe, J.L. O'Brien. Nature 464, 7285, 45 (2010)
Y. Mita. Phys. Rev. B 53, 17, 11 360 (1996)
S. Wurster, R. Pippan. Scripta Mater. 60, 1083 (2009)
M. Rose, A.G. Balogh. H. Hahn. Nucl. Instr. Meth. Phys. Res. B 127--128, 119 (1997)
Р.А. Андриевский. Композиты и наноструктуры 4, 35 (2009)
С.К. Гордеев. Сверхтвердые материалы 6, 60 (2002)
S.K. Gordeev, P.I. Belobrov, N.I. Kiselev, E.A. Petrakovskaya, T.C. Ekstrom. Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 638, F14161 (2001)
I.V. Golosovsky, I. Mirebeau, E. Elkaim, D.A. Kurdyukov, Yu.A. Kumzerov. Eur. Phys. J. B 47, 55 (2005)
Н.И. Киселев, Д.А. Великанов, С.Б. Корчагина, Э.А. Петраковская, А.Д. Васильев, Л.А. Соловьев, Д.А. Балаев, О.А. Баюков, И.А. Денисов, С.С. Цегельник, Е.В. Еремин, Д.А. Знак, К.А. Шайхутдинов, А.А. Шубин, Н.П. Шестаков, Н.В. Волков, С.К. Гордеев, П.И. Белобров. Рос. хим. журн. LVI, 1--2, 50 (2012)
P.I. Belobrov, N.I. Kiselev. Proc. of 12th Int. Symp. on thin films in electronics. Kharkov, Ukraine (2001). P. 38
Л.В. Лунев. Письма в ЖЭТФ 27, 15, 84 (2001)
© 2017 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук