H.W. Kroto, I.R. Heath, S.C. O'Brien, R.F. Curl, R.E. Smalley. Nature 318, 162 (1985)
W.M. Tong, D.A.A. Ohlberg, H.K. You, R.S. Williams, S.J. Anz, M.M. Alvares, R.L. Whetten, Y. Rubin, F.N. Diederich. J. Phys. Chem. 95, 4709 (1991)
Е.В. Рутьков, А.Я. Тонтегоде, Ю.С. Грушко. Письма в ЖЭТФ 57, 11, 712 (1993); E.V. Rut'kov, A.Ya. Tontegode, M.M. Usufov, Yu.S. Grusko. Mol. Mat. 4, 217 (1994).
D.E. Ramaker, N.H. Turner, J. Milliken. J. Phys. Chem. 96, 7627 (1992)
A.M. Shikin, S.A. Gorovikov, G.V. Prudnikova, V.K. Adamchuk. Mol. Mat. 4, 113 (1994); A.M. Shikin, S.A. Gorovikov, G.V. Prudnikova, V.K. Adamchuk. Surf. Sci. 307--309, 205 (1994)
T.W. Haas, J.T. Grant, G.J. Dooley III. J. Appl. Phys. 43, 1853 (1972)
P.G. Lurie, J.M. Wilson. Surf. Sci. 65, 476 (1977)
R.W. Lof, M.A. van Veenendaal, B. Koopmans, H.T. Jonkman, G.A. Sawatzky. Phys. Rev. Lett. 68, 26, 3924 (1992).
В.М. Микушкин, В.В. Шнитов. Патент РФ N 1814427
V.V. Shnitov, V.M. Mikoushkin, A.V. Zacharevich. 14th Europ. Conf. on Surface Science (ECOSS-14), Leipzig (1994). Abstracts. P. 76
Handbook of Auger electron spectroscopy. Physical Electronics Industries, Inc. (1976). 249 p
Д. Афанасьев, И. Блинов, А. Багданов, Г. Дюжев, В. Каратаев, А. Кругликов. ЖТФ 64, 10, 76 (1994)
J.E. Rowe, P. Rudolf, L.H. Tjeng, R.A. Malic, G. Meigs, C.T. Chen. Int. J. Mod. Phys. B6, 23/24, 325 (1992)