Издателям
Вышедшие номера
Влияние низкотемпературного отжига на морфологию приповерхностных слоев аморфного сплава на основе железа
Бетехтин В.И.1, Бутенко П.Н.1, Кадомцев А.Г.1, Корсуков В.Е.1, Корсукова М.М.1, Обидов Б.А.1, Толочко О.В.2
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Санкт-Петербургский государственный политехнический университет, Санкт-Петербург, Россия
Email: vjacheslav.korsukov@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 12 апреля 2007 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2007 г.

Методами электронной Оже-спектроскопии, трансмиссионной электронной микроскопии, атомной силовой и сканирующей туннельной микроскопии исследовалось влияние изотермического отжига на химический состав, микроструктуру и рельеф поверхности лент аморфного сплава Fe77Ni1Si9B13. Установлено, что отжиг ниже температуры стеклования приводит к обогащению бором неконтактной стороны ленты. Обнаружена участковая кристаллизация на обеих сторонах ленты с образованием областей кристаллизации размерами 2-5 mum, состоящих из нано- и микрокристаллов alpha-Fe на контактной и борида железа на неконтактной стороне ленты. Показано, что отжиг по-разному влияет на спектральные и фрактальные характеристики рельефа поверхности контактной и неконтактной сторон ленты. Обсуждается влияние химического состава и избыточного свободного объема приповерхностных слоев на формирование участковой кристаллизации и рельеф поверхностти. PACS: 81.05.Kf, 81.40.-z, 68.37.Lp, 68.37.Ps
  • А.В. Гаврилюк, А.А. Гаврилюк, Н.П. Ковалева, А.Ю. Моховиков. ФММ 101, 434 (2006)
  • Г.Е. Абросимова, А.С. Аронин, С.В. Добаткин, И.И. Зверькова, Д.В. Матвеев, О.Г. Рыбченко, Е.В. Татьянин. ФТТ 49, 983 (2007)
  • К. Судзуки, Х. Фудзимори, К. Хасимото. Аморфные металлы. Металлургия, М. (1987). 328 с
  • H.Y. Tong, J.T. Wang, B.Z. Ding, H.G. Jiang, K. Lu. J. Non-Cryst. Sol. 150, 444 (1992)
  • K. Lu. Mater. Sci. Eng. R 16, 161 (1996)
  • Е.В. Пустовалов, Н.Д. Захаров, В.С. Плотников, Б.Р. Грудин. ФММ 97, 91 (2004)
  • H.Y. Tong, B.Z. Ding, H.G. Jiang, K. Lu, J.T. Wang, Z.Q. Hu. J. Appl. Phys. 75, 654 (1994)
  • А.М. Глейзер. Журн. Рос. хим. о-ва им. Д.И. Менделеева 46, 57 (2002)
  • В.И. Бетехтин, А.Г. Кадомцев, О.В. Толочко. ФТТ 43, 1815 (2001)
  • В.И. Бетехтин, А.Г. Кадомцев, В.Е. Корсуков, О.В. Толочко, А.Ю. Кипяткова. Письма в ЖТФ 24, 58 (1998)
  • К. Эндрюс, Д. Дайсон, С. Киоун. Электронограммы и их интерпретация. Мир, М. (1971). С. 256
  • А.Ф. Башев, И.С. Мирошниченко, Г.А. Сергеев. Изв. АН СССР. Неорган. материалы 17, 1206 (1981)
  • Yu. Khan, E. Kneller, V. Sostarich. Z. Metallkunde 73, 624 (1982)
  • A. Arneodo, F. Bacry, J.E. Muzy. Physica A 213, 232 (1995)
  • Л.В. Гиляров, В.Е. Корсуков, П.Н. Бутенко, В.Н. Светлов. ФТТ 46, 1806 (2004).
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.