Вышедшие номера
Кинетика точечных дефектов и процессы аморфизации в тонких пленках при облучении
Овидько И.А.1, Рейзис А.Б.1
1Институт проблем машиноведения РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: ovidko@def.ipme.ru
Поступила в редакцию: 11 февраля 2003 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2003 г.

Предложена теоретическая модель для описания эволюции ансамбля точечных дефектов (вакансий и межузельных атомов) и ее влияния на процессы твердофазной аморфизации в облучаемых кристаллических тонких пленках. Предлагаются уравнения кинетики точечных дефектов в облучаемых тонких пленках в случае отсутствия ионной имплантации. С помощью численного решения данного кинетического уравнения проведен расчет температурной зависимости "дозы начала аморфизации", которая сравнивается с соответствующими экспериментальными данными. Настоящая работа выполнена при частичной поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (грант N 01-02-16853) и программы "Интеграция" (грант Б0026).
  1. H. Abe, Sh. Yamamoto, H. Naramoto, Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. B127/128, 170 (1997)
  2. В.А. Скуратов, А.Е. Ефимов, Д.Л. Загорский. ФТТ 44, 1, 165 (2002)
  3. В.Р. Галахов, Д.А. Зацепин, Л.В. Елохина, Т.А. Белых, Е.А. Козлов, С.В. Наумов, В.Л. Арбузов, К.В. Шальнов, М. Нойманн. ФТТ 44, 7, 1318 (2002)
  4. F. Banhart. ФТТ 44, 3, 388 (2002)
  5. D. Pacifici, E.C. Moriera, G. Franzo, V. Martorino, F. Priolo F. Iacona. Phys. Rev. B 65, 14, 144 109 (2002)
  6. J. Yamasaki, Seiji Takeda, K. Tsuda. Phys. Rev. B 65, 11, 115 213 (2002)
  7. S.X. Wang, L.M. Wang, R.C. Ewing. Phys. Rev. B 63, 115 213 (2000)
  8. A. Meldrum, L.A. Boatner, R.C. Ewing. Phys. Rev. Lett. 88, 2, 025 503 (2002)
  9. D.F. Pedraza. J. Less--Common Met. 140, 219 (1988)
  10. M. Rose, G. Gorzawski, G. Miehe, A.G. Balogh, H. Hahn. Nanostruct. Mater. 6, 731 (1995)
  11. M. Rose, A.G. Balogh, H. Hahn. Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. B127/128, 119 (1997)
  12. Г.А. Малыгин. УФН 169, 9, 979 (1999)
  13. Г.А. Малыгин. ФТТ 44, 11, 1979 (2002)
  14. В.И. Владимиров. Физическая теория пластичности и прочности. Ч. II. Точечные дефекты. Упрочнение и возврат. Изд-во ЛПИ, Л. (1975)
  15. Ю.В. Трушин. Физические основы радиационного материаловедения. Изд-во СПбГТУ, СПб (1998). 81 с
  16. И.А. Овидько, А.Б. Рейзис. Неорган. материалы 35, 6, 766 (1999)
  17. I.A. Ovid'ko, A.B. Reizis. J. Phys. D32, 22, 2833 (1999)
  18. М.Ю. Гуткин, И.А. Овидько. Дефекты и механизмы пластичности в нанокристаллических и некристаллических материалах. Янус, СПб (2001). 178 с
  19. M.Yu. Gutkin, I.A. Ovid'ko. Phys. Rev. B 63, 6, 064515 (2001)
  20. Ж. Фридель. Дислокации. Мир, М. (1967). 643 с
  21. R.G. Morris. J. Appl. Phys. 50, 10, 3250 (1979)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.