"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Модификация поверхностей полевых эмиттеров из карбида вольфрама для локализации эмиссии электронов и ионов
Голубев О.Л.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: O.Golubev@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 1 ноября 2010 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2011 г.

С помощью метода полевой эмиссионной микроскопии изучены изменения формы эмиттера из карбида вольфрама при одновременном воздействии сильных электрических полей и высоких температур. Показано, что при этом на поверхности эмиттера наблюдаются те же стадии изменения формы эмиттера, что и для эмиттеров из чистых металлов. Продемонстрирована возможность выращивания на поверхности эмиттера единичного наноразмерного выступа, который может эмитировать заряженные частицы с такой же стабильностью, как и эмиттеры из углеродных материалов. При этом величины эмиссионных токов, плотности токов, углов эмиссии и приведенных яркостей сопоставимы с таковыми для эмиттеров из углеродных нанотрубок, а преимуществами такого единичного наноразмерного выступа являются его полная воспроизводимость и способность эмитировать не только электроны, но и ионы.
  • Шредник В.Н. // Рост кристаллов. М.: Наука, 1980. Т. 13. С. 68--79
  • Vlasov J.A., Golubev O.L., Shrednik V.N. // J. De Phys. Coll. C6. Suppl. No 11. 1988. Vol. 49. P. C6-131--C6-136
  • Павлов В.Г., Рабинович А.А., Шредник В.Н. // ФТТ. 1975. Т. 17. Вып. 7. С. 2045--2048
  • Butenko V.G., Golubev O.L., Vlasov Yu.A. at al. // Surf. Sci. 1992. Vol. 266. P. 165--169
  • Голубев О.Л. // Письма в ЖТФ. 2009. Т. 35. Вып. 12. С. 18--24.
  • Павлов В.Г., Рабинович А.А., Шредник В.Н. // ЖФТ. 1975. Т. 45. Вып. 10. С. 2126--2134
  • Голубев О.Л., Логинов М.В. // ЖТФ. 2006. Т. 76. Вып. 9. С. 107--114
  • Гурин В.Н., Корсукова М.М., Логинов М.В. и др. // ЖТФ. 2001. Т. 71. Вып. 9. С. 97--104
  • Комар А.П., Таланин Ю.А. // Изв. АН СССР. Сер. физ. 1958. Т. 22. Вып. 11. С. 580--593
  • Голубев О.Л., Шайхин Б.М., Шредник В.Н. // Письма в ЖТФ. 1975. Т. 1. Вып. 15. С. 714--718
  • Логинов М.В., Шредник В.Н. // Письма в ЖТФ. 2003. Т. 29. Вып. 13. С. 1--9
  • Фоменко В.С. Эмиссионные свойства материалов. Киев: Наук. думка, 1981. 338 с
  • Castilho C.M.C., Kingham D.G. // Surf. Sci. 1986. Vol. 173. N 1. P. 75--96
  • Hawkes P.W., Kasper E. // Principles of Electron Optics II: Appl. Geometrical Optics. Academic, London (1996). 346 p
  • Niels De Jonge // J. Appl. Phys. 2004. Vol. 95. N 2. P. 673--681.
  • Голубев О.Л., Шредник В.Н. // ЖФТ. 2002. Т. 72. Вып. 8. С. 109--115
  • Голубев О.Л. // Письма в ЖТФ. 2009. Т. 35. Вып. 12. С. 18--24.
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.