"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
О причинах пирофорной устойчивости нанопорошка вольфрама, полученного плазмохимическим пиролизом W(CO)6
Шульга Ю.М.1, Мартыненко В.М.1, Берестенко В.И.1, Домашнев И.А.1, Куркин Е.Н.1, Торбов В.И.1
1Институт проблем химической физики РАН Черноголовка, Московская область, Россия
Email: shulga@icp.ac.ru
Поступила в редакцию: 3 февраля 2011 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2011 г.

Непирофорные порошки вольфрама со средним размером частиц около 30 nm были получены пиролизом гексакарбонила вольфрама в потоке азотной плазмы СВЧ-разряда. Установлено, что они устойчивы на воздухе вплоть до 300oC. Причина этой устойчивости связана с тем, что частицы порошка имеют строение типа ядро-двойная оболочка, где металлическое ядро покрыто оксидной оболочкой толщиной приблизительно 1 nm, которая в свою очередь покрыта рентгеноаморфным слоем, состоящим из атомов углерода, кислорода и азота. Установлено также, что при нагреве в вакууме исследуемые порошки выделяют в газовую фазу в основном оксиды углерода (CO и CO2) и воду. Из молекул, которые присутствуют в газовой фазе над нагретым образцом в небольших концентрациях, помимо углеводородов C1-C3, следует отметить оксид азота (NO) и формальдегид (H2CO).
  • Tolochko O.V., Klimova O.G., Ordanian S.S., Cheong D.I., Kim Y.M. // Rev. Adv. Mater. Sci. 2009. Vol. 21. P. 192
  • Кайдаш Е.А., Несмелов Д.Д., Васильева Е.С. // Вопросы материаловедения. 2008. N 2. С. 202
  • Magnusson M.H., Deppert K.J. // Mater. Res. 2000. Vol. 15. P. 1564
  • Kang H.K. // J. Nucl. Mater. 2004. Vol. 335. P. 1
  • Selcuk C., Bentham R., Morley N., Wood J.V. // Mater. Lett. 2004. Vol. 58. P. 1873
  • Liufeng X., Ting H. // Chem. Mater. 2006. Vol. 18. P. 2211
  • Резникова Т.В., Троицкий В.Н., Алексеев Н.В., Шульга Ю.М. // ЖПХ. 1981. Т. 55. С. 2633
  • JCPDS --- International Centre for Diffraction Data (www.icdd.com)
  • Goldenberg S.M., Fadley C.S., Kono S. // J. Electron Spectroscopy. 1981. Vol. 21. P. 285
  • Шульга Ю.М., Троицкий В.Н. // Порошковая металлургия. 1979. N 10. С. 1
  • Анализ поверхности методами оже-рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / Под ред. Д. Бриггса, М.П. Сиха. М.: Мир, 1987. С. 598
  • Шульга Ю.М., Троицкий В.Н., Айвазов М.И., Бородько Ю.Г. // Журн. неорг. химии. 1975. Т. 21. С. 2621
  • Audi G., Wapstra A.H. // Nuclear Physics. 1993. Vol. A565. P. 1
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.