Вышедшие номера
Home » Письма в журнал технической физики » Год 2009, выпуск 6 » Статья стр. 17
<<<>>>
Структура внутренних электронных уровней фтор-фуллеритов C60F18 и C60F36
Микушкин В.М.1,2,3,4,5, Шнитов В.В.1,2,3,4,5, Брызгалов В.В.1,2,3,4,5, Гордеев Ю.С.1,2,3,4,5, Болталина О.В.1,2,3,4,5, Гольд И.В.1,2,3,4,5, Молодцов С.Л.1,2,3,4,5, Вялых Д.В.1,2,3,4,5
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Москва, Россия
3Chemistry Department, Colorado State University, Fort Collins, USA
4Institut fur Festkorperphysik, Fachrichtung Physik Technische Universitat Dresden, Dresden, Germany
5Институт физики им. В.А. Фока, СПбГУ им. В.И. Вернадского, Санкт-Петербург, Россия
Email: V.Mikoushkin@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 22 сентября 2008 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2009 г.
PDF версия
Методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии с использованием синхротронного излучения исследована структура внутренних уровней C1s и F1s фтор-фуллеритов C60F18 и C60F36. Установлено, что уровни C1s атомов углерода, не связанных с атомами фтора, сдвинуты вниз относительно C1s уровня обычного фуллерита C60 соответственно на 1.0 и 1.6 eV. Энергии связи внутренних уровней фтор-фуллеритов соответственно равны Eb(C1s, C-C)=285.7 и 286.3 eV, являются характеристическими и могут быть использованы для идентификации не только однородных фтор-фуллеритов, но и материалов, состоящих из смеси различных фтор-фуллеренов друг с другом и с другими углеродными материалами. PACS: 71.20.Tx
  1. Boltalina O.V., Strauss S.H. // Dekker Encyclopedia of Nanoscience and Nanotechnology / Eds J.A. Schwarz, C. Contescu, K. Putyera. New York: Marcel Dekker, 2004. P. 1175
  2. Boltalina O.V., Galeva N.A. // Russ. Chem. Rev. 2000. V. 69. P. 609
  3. Goldt I.V., Boltalina O.V., Kemnitz E., Troyanov I. // Solid State Sci. 2002. V. 4. P. 1395
  4. Сих М.П., Бриггс Д. Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. М.: Мир, 1987. 598 c
  5. Benning P.J., Ohno T.R., Weaver J.H. et al. // Phys. Rev. B. 1993. V. 47. P. 1589
  6. Cox D.M., Cameron S.D., Tuinman A. et al. // J. Am. Chem. Soc. 1994. V. 116. P. 1115
  7. Matsuo Y., Nakajima T., Kasamatsu S. // J. Fluor. Chem. 1996. V. 78. P. 7
  8. Mitsumoto R., Araki T., Ito E. et al. // J. Phys. Chem. A. 1998. V. 102. P. 552
  9. Dement'ev A.P., Boltalina O.V., Ponomarev D.B., Galeva N.A. // Proceedings--Electrochemical Society. 2001. V. 2001--11. P. 559
  10. Mikoushkin V.M., Galaktionov M.S., Shnitov V.V. et al. // Bulletin of the BESSY Annual Report. 2006. Berlin, 2007. P. 202
  11. Shnitov V.V., Mikoushkin V.M., Gordeev Yu.S. et al. // Fullerenes, Nanotubes and Carbon nanostructures. 2006. V. 14. P. 297
  12. Fedoseenko S.I., Vyalikh D.V., Iossifov I.E. et al. // Nucl. Instr. Meth. A. 2003. V. 505. P. 718
  13. Mikoushkin V.M., Shnitov V.V., Bryzgalov V.V. et al. // Fullerenes, Nanotubes and Carbon nanostructures. 2008. V. 16. N 5
  14. Mikoushkin V.M., Shnitov V.V., Bryzgalov V.V. et al. // Journal of Electron spectroscopy and related phenomena. 2008. V. 162. N 5

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme