Проанализирован спектральный состав свечения поверхности металлических мишеней железа (99.99 Fe), циркония (99.98 Zr) и вольфрама (99.96 W) при облучении ионами Ar+ с энергией 5-20 keV. В спектрах свечения всех трех металлов присутствуют две широкие полосы излучения, расположенные в видимой и ИК областях спектра. Первая из них связывается с излучением термических пиков (thermal spikes), представляющих собой разогретые до 5000-6000 K наноразмерные области, формирующиеся вблизи поверхности мишеней в ходе эволюции плотных каскадов атомных смещений. Наличие ИК полосы объясняется интегральным разогревом мишеней до 500-800 K в ходе их облучения. Такая точка зрения подтверждается сопоставлением экспериментальных и расчетных значений температуры в области термализованных каскадов, а также относительных интенсивностей полос свечения.
White C.W., Thomas E.W., Vanderweg W.F., Tolk N.H. Inelastic ion surface collisions. North Holland Pub. Co. N.Y., 1997. Chapter 3. P. 106
Плешивцев Н.В., Бажин А.И. Физика воздействия ионных пучков на материалы. М.: Вузовская книга, 1998. Глава 4. С. 134
Бериш Р., Виттмак К., Легрейд Н. и др. Распыление под действием бомбардировки частицами. Вып. III. Характеристики распыленных частиц, применение в технике / Пер. с англ. под ред. Р. Берниша и К. Виттмака. М.: Мир, 1998. Глава 4. С. 300--303
Ryssel H., Ruge I. Ion implantaion. New York: John Wiley and Sons, 1986. Chapter 2. P. 5--34
Овчинников В.В. // Успехи физических наук. 2009. Т. 178. N 9. С. 991--1001
Келли Р. Столкновительные, тепловые и электронные процессы ионного распыления. Новости физики твердого тела. Ионная имплантация в полупроводники и другие материалы. / Сб. статей. Перевод с англ. под ред. д-ра физ.-мат. наук, проф. В.С. Вавилова. М.: Мир, 1980. В. 19. С. 194
Овчинников В.В., Гущина Н.В., Лузгин А.В. О зависимости объемной плотности энергии, выделенной в объеме каскада атомных столкновений, от энергии и массы внедряемых ионов. / Труды X Межнационального совещания "Радиационная физика твердого тела". Севастополь, 2000. С. 391--394
Biersack J.P., Haggmark L.G. // Nucl. Instr. \& Meth. 1980. V. 174. P. 257--269
Козловский В.В., Козлов В.А., Ломасов В.Н. // Физика и техника полупроводников. 2000. Т. 34. В. 2. С. 129--147
Dremov V.V., Sapozhnikov A.F., Samarin S.I., Modestov D.G., Chizhikov N.E. // Journal of Alloys and Compounds. 2007. V. 444--445. P. 197--2001
Samarin S.I., Dremov V.V. // Journal of Nuclear Materials. 2009. V. 385. Issue 1. P. 83--87
Schweer B., Bay H.L. // Appl. Phys. A. 1982. V. 29. P. 53--55
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.