С использованием компьютерного моделирования найдены условия для воспроизводимого выращивания совершенных кристаллов Bi12SiO20 с ориентацией < 110 > низкоградиентным методом Чохральского, когда фронт кристаллизации полностью занят гранью (110). Получены кристаллы диаметром 85 mm, длиной 200 mm и весом 10 kg. Плотность дислокации в выращенных кристаллах не превосходит 10 cm-2, а неоднородность коэффициента преломления не более 10-3.
Каргин Ю.Ф., Бурков В.И., Марьин А.А., Егорышевав А.В. // Синтез, структура, свойства. M.: KIGIC, 2004
Ballman A.A. // J. Crystal Growth. 1967. V. 1. P. 37
Сафонов А.И., Барышев С.А., Никитина Т.И. // Кристаллография. 1968. Т. 13. N 5. С. 914
Соболев А.Т., Кортлов Ю.Л., Кравченко В.Б. // Кристаллография. 1978. Т. 23. N 1. С. 174
Кузьминов Ю.С., Лившиц М.Г., Сальников В.Д. // Кристаллография. 1969. Т. 14. N 3. С. 363
Tanguay A.R., Mroczkowski S., Barker R.C. // J. Crystal Growth. 1977. V. 42. P. 431
Smet F., Van Enckevort W.J.P. // J. Crystal Growth. 1990. V. 100. P. 417
Steiner B., Laor U., Kuriyama M. // J. Crystal Growth. 1988. V. 87. P. 79
Borovlev Yu.A., Ivannnikova N.V., Shlegel V.N. // J. Crystal Growth. 2001. V. 229. P. 305
Жереб В.П., Скориков В.М. // Неорганические материалы. 2003. Т. 39. N 11. С. 136
Borovlev Yu.A., Ivannnikova N.V., Shlegel V.N., Vasiliev Ya.V., Gusev V.A. // J. Crystal Growth. 2001. V. 229. P. 105
Shlegel V.N., Pantsurkin D.S. // Crystallography Reports. 2009. V. 54. N 7. P. 1261
Васильев М.Г., Мамедов В.М., Руколайне С.А., Юферев В.С. // Изв. РАН. Сер. физ. 2009. Т. 73. N 10. С. 1491
Mamedov V.M., Vasiliev M.G., Yuferev V.S., Pantsurkin D.S., Shlegel V.N., Vasiliev Ya.V. // J. Crystal Growth. 2010. V. 312. P. 2814
Budenkova O.N., Vasiliev M.G., Shlegel V.N., Ivannikova N.V., Bragin R.I. // Crystallography Reports. 2005. V. 50. Suppl. 1. P. 100
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.