"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Анализ распределения дефектов в эпитаксиальных пленках YBa 2Cu 3O 7 методом каналирования ионов
Вербицкая Е.М.1, Еремин В.К.1, Кобзев А.П.1, Конников С.Г.1, Строкан Н.Б.1, Широков Д.М.1
1Физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе Санкт-Петербург
Поступила в редакцию: 17 апреля 1992 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 1993 г.

  • Фельдман Л., Майер. Основы анализа поверхности и тонких пленок. М.: Мир, 1989. 342 с
  • Кобзев А.П., Михайдик Д., Шандрин Р. и др. Препринт ОИЯИ N Р14-91-94. Дубна, 1991
  • Комаров Ф.Ф., Кумахов М.А., Ташлыков И.С. Неразрушающий анализ поверхностей твердых тел ионными пучками. Минск, 1987. 256 с
  • Stottel N.G., Morris P.A., Bonner W.A., Wilkens B.I. Phys. Rev. B. 1988. Vol. 37. P. 2297--2300
  • Sharma R.P., Rehu L.E., Baldo P.M., Lin I.Z. Phys. Rev. B. 1989. Vol. 38. P. 9287--9290
  • Haga T., Yamaya K., Abe Y. Phys. Rev. B. 1980. Vol. 41. P. 826--829
  • Devies J.A. Can. J. Phys. B1. 1967. Vol. 45. P. 4053--4059
  • Lubig A., Buohal Ch., Frohlingsdorf I. at al. Nucl. Instr. Meth. 1990. Vol. B-50. P. 114--118
  • Sokhi R.S., Gilberd P.W., Earwaker L.G. Nucl. Instr. Meth. 1990. Vol. B-50. P. 140--144
  • Ihans H., Earwaker L.G., Chew N.G. et al. Nucl. Instr. Meth. 1991. Vol. B 56/57. P. 768--771
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.