Вышедшие номера
Home » Письма в журнал технической физики » Год 1993, выпуск 24 » Статья стр. 11
<<<>>>
Влияние протяженных дефектов на пробой тонкопленочных МДП-структур
Масловский В.М.1, Личманов Ю.О.1, Симанович Е.В.1
1Научно-исследовательский институт физических проблем им.Ф.М.Лукина Москва
Выставление онлайн: 19 ноября 1993 г.
PDF версия
  1. Румак Н.В. Система кремний--двуокись кремния в\commes МОП-структурах. Минск, 1986
  2. Fishetty M.V. J. Appl. Phys. 1985. V. 57. P. 2860--2875
  3. Козлитин А.И., Колобов Н.А., Масловский В.М., Минаев В.В., Тарасенко В.В. Электронная техника. Сер. 3. Микроэлектроника. 1989. В. 5(134). С. 14--17
  4. Мотт H., Девис Э. Электронные процессы в некристаллических веществах. М.: Мир, 1982. Т. 1. 368 c
  5. Ламперт П., Марк П. Инжекционные токи в твердых телах. М.: Мир, 416 с
  6. Nakhmanson R.S., Roizin Ya.O. Thing Solid Films. 1978. V. 55.P. 169--178

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme