Методом трехкристальной рентгеновской дифрактометрии проведен анализ структурных дефектов в гетерокомпозициях InAsSbP/InGaAsSb. Полученные данные представлены для двух направлений в плоскости рассеяния --- вдоль вектора обратной решетки и перпендикулярно к нему. Из распределения интегральной интенсивности вдоль дифракционного вектора выявлена локализация сеток дислокаций несоответствия. Появление и расположение сеток дислокаций обсуждается в связи с распределением деформации по толщине и пониженной пластичностью твердых растворов InAsSbP и InGaAsSb. Рассматривается влияние дефектов несоответствия на характеристики гетеролазеров.
Fewster P. et al. J. Appl. Grystall. 1989. V. 22. N 1. P. 64--70
Кютт Р.Н., Аргунова Т.С. ФТТ. 1989. Т. 31. N 1. С. 40--45
Tanner B. J. Phys. D. Appl. Phys. 1993. V. 26. P. A151
Argunova T.S., Kyutt R.N., Matveev B.A., Ruvimov S.S., Stus' N.M., Talalakin G.N. Solid State Phenomena. 1991. V. 19--20. P. 581--586
Aidaraliev M., Zotova N.V. Karandashev S.A., Matveev B.A., Stus' N.M., Talalakin G.N. Phys. Stat. Sol. (a). 1989. V. 115. P.K117--K120. \numref[6]Aidaraliev M., Zotova N.V., Karandashev S.A., Matveev B.A., Stus' N.M., Talalakin G.N. Semicond. Sci. Technol. 1993. V. 8. N 8. P. 1575--1580
Williams C.R., Glisson T.H., Hauser J.R., Littlejohn M.A. J. Electron. Mater. 1978. V. 7. P. 639--646
Olsen G.H., Nuese C.J., Smith R.T. J. Appl. Phys. 1978. V. 49. N 11. P. 5523--5529
Матвеев Б.А., Стусь Н.М., Талалакин Г.Н., Чернева Т.В., Фадин Ю.А. Изв. АН СССР. Сер. неорг. материалы. 1990. Т. 26. N 3. С. 639--640
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.