Издателям
Вышедшие номера
Spin-polarized scanning probe microscopy
Laiho R.1, Reittu H.1
1Wihuri Physical Laboratory, University of Turku, Turku, Finland
Поступила в редакцию: 6 декабря 1995 г.
Выставление онлайн: 18 февраля 1996 г.

Possibility of spin-polarized scanning probe microscopy using a semiconductor tip illuminated with circularly polarized light is theoretically discussed. Both spin-polarized scanning tunneling microscopy and spin-polarized force microscopy are considered. Critical evaluation of working conditions and tip materials suggest that they may provide means to investigate magnetic surface properties of solids with a very high resolution.
  • Binnig G., Rohrer H., Gerber Ch., Weibel E. Phys. Rev. Lett. 49, 57 (1982)
  • Binnig G., Quate C.F., Gerber Ch. Phys. Rev. Lett. 56, 930 (1986)
  • Minakov A.A., Shvets I.V. Surf. Sci. 236, 377 (1990)
  • Wiesendanger R., Guntherodt H.-J., Guntherodt G., Gambino R.J., Ruf R. Phys. Rev. Lett. 65, 247 (1990)
  • Molotkov S.N., Pis'ma Zh. Eksp. Teor. Fiz. 55, 180 (1992)
  • Laiho R., Reittu H.J. Surf. Sci. 289, 363 (1993)
  • Sueoka K., Mukasa K., Hayakawa K., Jpn. J. Appl. Phys. 32, 2989 (1993)
  • Nunes G., Jr. Amer N.M. Appl. Phys. Lett. 63, 1851 (1993)
  • Reittu H.J. J. Phys. Condens. Matter 6, 1847 (1994)
  • Jansen R., van der Wielen M.C.M.M., Prins M.W.J., Abraham D.L., van Kempen H. J. Vac. Sci. Technol. B12, 2133 (1994)
  • Manassen Y. Adv. Mater. 6, 401 (1994)
  • Yamaguchi K., Okamoto K., Yugo S., J. Appl. Phys. 77, 6061 (1995)
  • Reittu H.J. Surf. Sci. 334, 257 (1995)
  • Slonczewski J.C. Phys. Rev. B39, 6995 (1989)
  • Bardeen J. Phys. Rev. Lett. 6, 57 (1961)
  • Pierce D.T., Celotta R.J. Optical Orientation / Ed. F. Meier, B.P. Zakharchenya. North--Holland. Amsterdam (1984). P. 259
  • Dyakonov M.I., Perel V.I. Ibid. P. 11; G.E. Pikus, A.N. Titkov. Ibid. P. 73; V.G. Fleisher, I.A. Merkulov. Ibid. P. 173
  • Stearns M.B. J. Magn. Magn. Mater. 5, 167 (1977)
  • Feuchtwang T.E., Cutler P.H. Physica Scripta 35, 132 (1987)
  • Reittu H.J., Am. J. Phys. 63, 940 (1995)
  • Chen C.J. J. Phys. Condens. Matter 5, 1227 (1991)
  • Chen C.J., Introduction to Scanning Tunneling Microscopy Oxford University Press. N.Y. (1993). P. 75
  • Tersoff J., Hamann D.R. Phys. Rev. B31, 805 (1985)
  • Hecht M.H. Phys. Rev. B41, 7918 (1990)
  • Wu R., Freeman A.J. Phys. Rev. Lett. 69, 2867 (1992)
  • Nakanishi T., Aoyagi H., Horinaka H., Kamiya Y., Kato T., Nakamura S., Saka T., Tsubata M. Phys. Lett. A158, 345 (1991)
  • Prins M.W.J., Groeneveld R.H.M., Abraham D.L., van Kempen H., van Kesteren H.W. Appl. Phys. Lett. 66, 1141 (1995)
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.