Вышедшие номера
Сегрегация мышьяка на поверхности арсенида галлия, выращенного методом молекулярно-лучевой эпитаксии при низкой температуре
Гордеев Ю.С.1, Микушкин В.М.1, Никонов С.Ю.1, Сысоев С.Е.1, Чалдышев В.В.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 14 июня 1996 г.
Выставление онлайн: 20 октября 1996 г.

Методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии выполнено сравнительное исследование арсенида галлия, выращенного с избыточным содержанием мышьяка (1.5%) методом молекулярно-лучевой эпитаксии при низкой температуре (LTMBE-GaAs), и обычного арсенида галлия. Обнаружен эффект сегрегации избыточного мышьяка на поверхности LTMBE-GaAs, приводящий к образованию пленки толщиной в несколько атомных слоев. Измерен фотоэлектронный спектр валентных электронов этой квазидвумерной пленки, отражающий распределение плотности состояний валентных электронов. Показано, что уровень Ферми практически совпадает с краем заполненных состояний, что свидетельствует о наличии у пленки свойств металла. Определены высота разрыва зон спонтанно образованной наноструктуры GaAs/As и высота потенциального барьера Шоттки, которые оказались равными 0.5±0.1 eV.
  1. F.W. Smith, A.R. Calawa, Chang-Lee Chen, M.J. Mantra, L.J. Mahoney. IEEE Electron-Devices Lett. 9, 77 (1988)
  2. M. Kaminska, Z. Liliental-Weber, E.R. Weber, T. George, J.B. Kortright, F.W. Smith, B.Y. Tsaur, A.R. Calawa. Appl. Phys. Lett. 54, 1831 (1989)
  3. Н.А. Берт. А.И. Вейнгер, М.Д. Вилисова, С.И. Голощапов, И.В. Ивонин, С.В. Козырев, А.Е. Куницын, Л.Г. Лаврентьева, Д.И. Лубышев, В.В. Пребраженский, Б.Р. Семягин, В.В. Третьяков, В.В. Чалдышев, М.П. Якубеня. ФТТ 35, \it 10, 2609 (1993)
  4. D.C. Look, D.C. Walters, C.E. Stutz, K.R. Evans, J.R. Sizelove. J. Appl. Phys. 71, \it 12, 5981 (1992)
  5. D.C. Look, J.T. Grant, J.R. Sizelove. Appl. Phys. Lett. 61, \it 11, 1329 (1992)
  6. H. Shen, F.C. Rong, R. Lux, J. Pamulapati, M. Taysing-Lara, M. Dutta, E.H. Poindexter. Appl. Phys. Lett. 61, \it 13, 1585 (1992)
  7. A.C. Warren, J.M. Woodall, P.D. Kirchner, X. Yin, F. Pollak, M.R. Melloch, N. Otsuka, K. Mahalingam. Phys. Rev. B 46, \it 8, 4617 (1992)
  8. Х. Риссел, И. Руге. Ионная имплантация. Наука. М. (1983). 360 с
  9. J.A. Taylor. J. Vac. Sci. Technol. 20, 751 (1982)
  10. S. Aksela, S. Sivonen. Phys. Rev. A 23, 1243 (1982)
  11. C.R. Brundle, D. Seybold. J. Vac. Sci. Technol. 16, 1186 (1979)
  12. Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / Пер. с англ. под ред. Д.Бриггса и М.П.Сиха. Мир. М. (1987). 600 с
  13. G. Margaritondo. Surf. Sci. 168, 439 (1986)
  14. R.W. Grant, J.R. Waldrop, S.P. Kowalczyk, E.A. Kraut. Surf. Sci. 168, 498 (1986)
  15. Y. Mizokawa, H. Iwasaki, R. Nishitani, S. Nakamura. J. Electron Spectrosc. 14, 129 (1978)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.