"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Чувствительность метода эллипсометрии в условиях возбуждения поверхностных поляритонов
Буршта И.И.1, Венгер Е.Ф.1, Завадский С.Н.1
1Институт физики полупроводников АН Украины,, Киев, Украина
Поступила в редакцию: 30 октября 1993 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 1994 г.

  • Abeles F.A., Catolan L.A., Lopez-Rios T., Lafait O.J. Thin Solid Films. 1972. Vol. 13. P. A35
  • Abeles F.A. Surf. Sci. 1976. Vol. 56. N 1. P. 237--250
  • Никитин А.К. Автореф. канд. дис. 1986. 14 с
  • Свиташев К.К., Семененко А.И., Семененко А.В. и др. Опт. и спектр. 1977. Т. 42. Вып. 6. С. 1142--1147
  • Никитин А.К., Тищенко А.А. Зарубежная радиоэлектроника. 1983. N 3. С. 38--56
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.