Метод контроля деформаций монокристаллов с помощью двухкристального нейтронного спектрометра
Абов Ю.Г.1, Эйдлин А.О.1, Денисов Д.С.1, Елютин Н.О.1, Матвеев С.К.1, Воронов Ю.А.1, Попов В.Д.1
1Московский инженерно-физический институт,, Москва, Россия
Поступила в редакцию: 1 августа 1994 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 1995 г.
Описан способ исследования деформаций изгиба монокристаллических пластин, основанный на применении техники двухкристального спектрометра и широкого монохроматического пучка нейтронов. Продемонстрированы возможности методики на примере нескольких образцов, подвергнутых различным процедурам обработки. Обсужден вопрос попутного извлечения информации о распределении по объему кристалла микроскопических деформаций, вызванных дефектами кристаллической решетки.
- Першенков В.С., Попов В.Д., Шальнов А.В. Поверхностные радиационные эффекты в ИМС. М.: Энергоатомиздат, 1988. 256 с
- Носков А.Г., Стенин С.И., Труханов Е.М. ПТЭ. 1982. N 2. С. 181--183
- Носков А.Г., Труханов Е.М. ПТЭ. 1985. N 5. С. 173--176
- Завьялова А.Л., Ломов А.А., Маргушев З.Ч. Кристаллография. 1991. Т. 36. N 1. С. 20--24
- Абов Ю.Г., Кулиджанов Ф.Г., Елютин Н.О., Низовой С.Н. ПТЭ. 1984. N 4. С. 52--57
- Новик Ю.З., Озеров Р.П., Хеннинг К. Структурная нейтронография. М.: Атомиздат, 1979. 343 с
- Вологин В.Г., Теплоухов С.Г., Эйдлин А.О. и др. ПТЭ. 1994. N 2. С. 12--17
- Пинскер З.Г. Рентгеновская кристаллооптика. М.: Наука, 1982. 390 с
- Кривоглаз М.А. Дифракция рентгеновских лучей и нейтронов в неидеальных кристаллах. Киев: Наукова Думка, 1983. 407 с
- Patel J.R. J. Appl. Cryst. 1975. Vol. 8. P. 186--191
- Eichhorn F., Kosmowski M., Schopf H.-G., Schulze G.E.R. Phys. Stat. Sol. (a). 1971. N 4. P. 445--457
- Гаврилюк Ю.Н., Гринштейн П.М., Ладочкин А.А., Мильвидский М.Г., Фомин В.Г. Кристаллография. 1993. Т. 38. N 5. С. 157--162
- Абов Ю.Г., Эйдлин А.О., Денисов Д.С. и др. ЖЭТФ. 1993. Т. 104. Вып. 6 (12). С. 4072--4080
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук