Растрескивание поверхности пластины прозрачного диэлектрика, находящейся в контакте с лазерной плазмой
Поступила в редакцию: 7 декабря 1993 г.
Выставление онлайн: 20 января 1994 г.
- Барчуков А.И., Бункин Ф.В., Конов В.И., Письма в ЖЭТФ. 1937. Т. 17. B. 8. С. 413--416
- Ковалев В.И., Морозов В.В., Файзулов Ф.С. Квантовая электроника. 1972. Т. 1. В. 10. С. 2172--2177
- Giuliano C.R. IEEE J. Quant. Electr. 1972. V. QE-8. Т 9. P. 749--754
- Boiling N.L., Crisp M.D., Dube G. Appl. Opt. 1973. V. 12. N 4. P. 650--660
- Догадов В.В., Смирнов В.Н. ЖТФ. 1977. Т. 57. В. 3. С. 448-450
- Крутякова В.П., Смирнов В.Н., Письма в ЖТФ. 1977. Т. 3. В. 22. С. 1190--1195
- Крутякова В.П., Смирнов В.Н. Письма в ЖТФ. 1978. Т. 4. В. 19. С. 1163--1167
- Крутякова В.П., Смирнов В.Н. ЖТФ. 1979. Т. 49. В. 9. С. 1928--1932
- Смирнов В.Н. ЖТФ. 1987. Т. 57. В. 3. С. 523--530
- Бонч-Бруевич А.М., Смирнов В.Н. ЖТФ. 1988. Т. 54. В. 11. С. 2184--2189
- Смирнов В.Н. Письма в ЖТФ. 1988. Т. 14. В. 4. С. 316--321
- Giuliano С.К. Appl. Phys. Lett. 1964. V. 5. B. 2. P. 137--139
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук