"Письма в журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Деградация межфазной границы Si--SiO 2 при полевых и радиационных воздействиях
Климов И.В., Листопадов Ю.М., Назаров А.И.
Поступила в редакцию: 7 ноября 1994 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 1995 г.

  • Nicollian E.N., Brews J.R. MOS Physics and Technology. N.Y., Pergamon Press, 1982. P. 900
  • Назаров А.И., Гуртов В.А., Кузнецов С.Н., Сергеев М.С. Микроэлектроника. 1991. Т. 20. В. 3. С. 36--43
  • Lai S.K. Appl. Phys. Lett. 1981. V. 39. N 1. P. 58--60
  • Fischetti M.V., Di Maria D.J., Brorson S.D., Thies T.N., Kirtley J.R. Phys. Rev. B. 1985. V. 31. N 12. P. 8124--8142
  • Назаров А.И., Листопадов Ю.М. Микроэлектроника. 1994. Т. 23. В. 4. С. 67--73
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.