Diaz R., Leon M., Rueda F. Jap. J. Appl. Phys. 1992. V. 31. P. 3675--3679
Neumann H., Perlt B., Horig, Kuh N.G. Thin Solid Films. 1989. V. 182. P. 115--119
Hedstrom J., Ohlsen H., Bodegard M. et al. 23rd IEEE Photovol. Spec. Conf. Lousville. 1993. P. 364
Basol B.M., Kapur V.K., Halani A., Leidholm C. Solar Energy Materials and Solar Cells. 1993. V. 29.P. 163--167
Yamaguchi T., Matsufusa J., Yoshida A. Jpn. J. Appl. Phys. 1992. V. 31. L703--L705
Раков А.В. Спектрофотометрия тонкопленочных полупроводниковых структур. М., 1975
Kindyak V.V., Kindyak A.S., Gremenok V.F. et al. Thin Solid Films. 1994. V. 250. P. 33--36
Киндяк В.В., Киндяк А.С., Гременок В.Ф. и др. Письма в ЖТФ. 1995. Т. 21. В. 7. С. 60--64
Shay J.L., Tell B., Kasper H.M., Shiavone L.M. Phys. Rev. 1972. V. B5. P. 5003
Современные проблемы полупроводниковой фотоэнергетики / Под ред. Т. Каутса. М.: Мир, 1988. 307 с
Kindyak V.V., Kindyak A.S., Gremenok V.F., Kutas A.A. Thin Solid Films. 1994. V. 240. P. 114
Боднарь И.В., Забелина И.А. Журнал прикладной спектроскопии. 1994. Т. 60. N 3--4. С. 320--323
Чалдышев В.А., Караваев Г.Ф. Изв. вузов. Сер. физ. 1963. N 5. С. 103--112
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.