"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Исследования электронной подсистемы оксидных сегнетоэлектриков методом вторичной электронной эмиссии
Томашпольский Ю.Я., Севостьянов М.А., Садовская Н.В., Колганова Н.В.
Выставление онлайн: 20 мая 1990 г.

Разработан и теоретически обоснован метод анализа электронной структуры, электрофизических и физико-химических параметров оксидных сегнетоэлектриков с помощью вторично-электронной эмиссии в растровом электронном микроскопе. Проведенные исследования кристаллов SrTiO3, BaTiO3, KNbO3 показали хорошее согласие измеренных значений Delta E, TC, lambda/C, T0 с литературными данными либо с величинами, полученными другими методами.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.