"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Восстановление профиля структурных нарушений сверхтонкого приповерхностного слоя кристалла из данных дифракции рентгеновских лучей в условиях скользящего падения
Головин А.Л., Меликян О.Г.
Выставление онлайн: 20 октября 1990 г.

Предложена методика дифференциальных измерений рентгеновской дифракции в условиях скользящего падения. Высокое угловое разрешение (~10'') и отсутствие геометрических искажений достигаются за счет селекции спектра с помощью кристалла-анализатора. Теоретическое рассмотрение базируется на кинематическом приближении теории дифракции. Определена область, в которой применимо данное приближение. Развитый в работе подход справедлив для кристаллов с произвольной зависимостью восприимчивости chi0, chih от глубины. Предложена методика восстановления профиля нарушений в кристалле на основе одновременной обработки экспериментальных данных рентгеновской дифракции при различных углах падения излучения.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.