Описан эксперимент по измерению оптических констант и толщин окиснованадиевых пленок, нанесенных на алюминиевый подслой, которые применяются в устройствах оптической обработки информации. Показано, что оптические константы пленки и подслоя зависят от условий вакуумного осаждения. Измерены петли гистерезиса оптических констант n и k на длинах волн 632.8 и 1152.3 нм. Показано, что дифракционная эффективность окиснованадиевой пленки eta рассчитанная с использованием полученных значений n, k и толщины пленки, хорошо совпадает с результатами независимых измерений eta.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.