"Письма в журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Исследование упругих характеристик эпитаксиальных слоев CaF2 на Si(III) методом Мандельштам-бриллюэновской спектроскопии
Александров В.В.1, Дьяконов A.М.1, Потапова Ю.Б.1, Соколов Н.С.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 16 сентября 1992 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 1992 г.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.