Издателям
Вышедшие номера
Влияние импульсного ионного облучения на электронную структуру многостенных углеродных нанотрубок
Болотов В.В.1, Корусенко П.М.1, Несов С.Н.1, Поворознюк С.Н.1
1Омский научный центр СО РАН, Омск, Россия
Email: korusenko@obisp.oscsbras.ru
Поступила в редакцию: 22 июля 2013 г.
Выставление онлайн: 20 марта 2014 г.

На основании рассмотрения спектров фотоэмиссии остовного C1s-уровня и валентной зоны углерода, полученных с использованием оборудования российско-германского канала синхротронного излучения BESSY II, а также аналитического комплекса фирмы "Riber", исследовано влияние имульсного ионного облучения и вакуумного отжига на соотношение s-0.8ptp2- и s-0.8ptp3-гибридизированных орбиталей атомов углерода в слоях ориентированных многостенных углеродных нанотрубок. Показано, что в результате ионного воздействия происходит существенное увеличение доли атомов с s-0.8ptp3-гибридизацией электронов. Следствием отжига, напротив, является снижение доли s-0.8ptp3-составляющей в спектрах углерода. Установлены характерные особенности валентной зоны многостенных углеродных нанотрубок в отожженном и облученном состоянии. Работа выполнена в рамках двусторонней программы "Российско-Германская лаборатория BESSY" при частичной поддержке гранта РФФИ N 12-08-00533-а.
  • W.S. Lim, Y.Y. Kim, H. Kim, S. Jang, N. Kwon, B.J. Park, J.-H. Ahn, J. Chung, B.H. Hong, G.Y. Yeom. Carbon 50, 429 (2012)
  • F.C. Tai1, S.C. Lee1, C.H. Wei, S.L. Tyan. Mater. Trans. 47, 7, 1847 (2006)
  • S. Turgeon, R.W. Paynter. Thin Solid Films 394, 44 (2001)
  • А.Г. Кудашов, А.Г. Куреня, А.В. Окотруб, А.В. Гусельников, В.С. Данилович, Л.Г. Булушева. ЖТФ 77, 12, 96 (2007)
  • В.В. Болотов, П.М. Корусенко, С.Н. Несов, С.Н. Поворознюк, Р.В. Шелягин. ФТТ 55, 1197 (2013)
  • В.В. Болотов, В.Е. Кан, П.М. Корусенко, С.Н. Несов, С.Н. Поворознюк, И.В. Пономарева, В.Е. Росликов, Ю.А. Стенькин, Р.В. Шелягин, Е.В. Князев. ФТТ 54, 154 (2012)
  • C. Pirlot, I. Willems, A. Fonseca, J.B. Nagy, J. Delhalle. Adv. Eng. Mater. 4, 3, 109 (2002)
  • M.-H. Tsai, H.-M. Lin, W.-L. Tsai, Y. Hwu. Rev. Adv. Mater. Sci. 5, 302 (2003)
  • М.П. Сих, Д. Бриггс. Анализ поверхности методами Оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Мир, М. (1987). С. 533--557
  • Y. Fan, A.G. Fitzgerald, P. John, C.E. Troupe, J.I.B. Wilson. Surf. Interface Anal. 34, 703 (2002)
  • S.H. Lim, H.I. Elim, X.Y. Gao, A.T.S. Wee, W. Ji, J.Y. Lee, J. Lin. Phys. Rev. B. 73, 045 402 (2006)
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.