В переменном поле частотой 1 kHz и в интервале температур 300-700 K проведены измерения удельной электропроводности sigma кристаллов гептагерманата лития Li₂Ge₇O₁₅ с добавками Cr и Mn. Зафиксировано сильное влияние допирования на электропроводность. Показано, что введение 0.1 wt.% примеси Cr почти на порядок увеличивает sigma, тогда как добавка 0.03 wt.% Mn приводит к значительному уменьшению электропроводности вдоль определенных кристаллографических направлений. На основании данных о вхождении примесных атомов Cr и Mn в решетку показано, что электропроводность определяется перескоками ионов лития по междоузельным позициям вдоль структурных каналов. PACS: 66.10.Ed, 66.30.Hs, 77.84.-s

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.