"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Исследования процесса электростимулированного роста кристаллов в системе металл--аморфный оксид--электролит методом вторично-ионной масс-спектрометрии
Коварский А.П., Новотельнова А.В., Ханин С.Д., Чернюс Н.Л.
Выставление онлайн: 20 января 1988 г.

Методом вторично-ионной масс-спектрометрии определены профили распределения элементов по толщине аморфных и кристаллических областей оксида тантала, подвергнутого в контакте с электролитом длительному электротепловому нагружению, С использованием изотопа О18 показано, что источником кислорода в процессе электростимулированного роста кристаллов в системе металл--аморфный оксид--электролит является электролит. На основании анализа распределения примесей установлено, что на образование кристаллической фазы вещество исходного аморфного оксида не расходуется. Указаны основные факторы, определяющие стабильность структуры и свойств аморфных диэлектрических материалов и технических устройств на их основе.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.