Наблюдение самоорганизации поверхности кристаллов вольфрама при термодиффузии атомов с помощью метода сканирующей туннельной микроскопии
Витухин В.Ю.1, Закурдаев И.В.1
1Рязанская государственная радиотехническая академия, Рязань, Россия
Поступила в редакцию: 5 июня 1996 г.
Выставление онлайн: 20 мая 1997 г.
С использованием метода сканирующей туннельной микроскопии исследована начальная стадия фасетирования вицинальной грани (110) вольфрама при отжиге кристалла в условиях, близких к термодинамическому равновесию, и термодиффузионного массопереноса. В первом случае исходные нанофасетки (следы электрохимической полировки) с частотой следования q=(3-4)·105 cm-1 объединяются, образуя микроступени с выраженной огранкой. Во втором случае на фоне сохраняющихся нанофасеток образуется волноподобная в виде синусоидального гофра структура. Частота гофрировки хорошо совпадает с теоретически рассчитанной на основе модели поверхностного массопереноса.
- И.В. Закурдаев. Изв. АН СССР. Сер. физ. 40, 8, 1554 (1976)
- Б.З. Ольшанецкий, А.И. Никифоров, В.И. Машанов. ФТТ 23, 10, 3136 (1981)
- M. Paniccia, P. Flinn, R. Reifenberger. J. Appl. Phys. 73, 12, 8189 (1993)
- Ж.И. Алферов, А.Ю. Егоров, А.Е. Жуков, С.В. Иванов, П.С. Копьев, Н.Н. Леденцов, Б.Я. Мельцер, В.М. Устинов. ФТП 26, 10, 1715 (1992)
- И.В. Закурдаев. ФТТ 11, 12, 3463 (1969)
- G. Froberg, P. Adam. Acta Met. 23, 365 (1975)
- Я.Е. Гегузин, Ю.С. Кагановский. Диффузионные процессы на поверхности кристалла. М. (1984). 124 с
- С.И. Васильев, Я.Н. Моисеев, Н.И. Никитин, С.В. Савинов, И.В. Яминский. Электрон. пром-сть 3, 36 (1991)
- В.Ю. Витухин, И.В. Закурдаев, О.В. Киреева, А.И. Руденко. Материалы XII Междунар. конф. "ВИП-95". М. (1995). 60 с
- И.В. Закурдаев, А.Д. Цыганов. ФТТ 15, 6, 1657 (1973)
- И.В. Закурдаев, Г.И. Мельник. ФТТ 19, 7, 1969 (1977)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук