Вышедшие номера
Сравнительное изучение с помощью просвечивающей электронной микроскопии трехмерной решетки из нанокластеров теллура, полученной различными способами в опаловой матрице
Богомолов В.Н.1, Сорокин Л.М.1, Курдюков Д.А.1, Павлова Т.М.1, Хатчисон Дж.2
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Department of Materials, University of Oxford, Parks Road, Oxford OX1, 3PH, UK
Поступила в редакцию: 9 июня 1997 г.
Выставление онлайн: 20 октября 1997 г.

Проведено электронно-микроскопическое изучение синтетических опалов, в регулярно расположенные пустоты которых введен теллур либо из расплава под давлением, либо из раствора. В первом случае выявлена трехмерная решетка из связанных друг с другом через мостики кластеров теллура. При переходе от одного к другому они сохраняют одну и ту же кристаллографическую ориентацию. Эти данные свидетельствуют о том, что при охлаждении объекта после введения теллура происходит его направленная кристаллизация, которая контролируется, возможно, каналами между кластерами. При втором способе введения теллура образуется неоднородная кластерная решетка: объемные кластеры вырастают не во всех пустотах. Поверхность большинства силикатных сфер покрыта тонким несплошным слоем теллура. Такая структура кластерной решетки обеспечивает нелинейную вольт-амперную характеристику объекта в целом. Продемонстрирована принципиальная возможность инженерии кластерных решеток, отличающихся структурными параметрами.
  1. В.Г. Балакирев, В.Н. Богомолов, В.В. Журавлев, Ю.А. Кумзеров, В.П. Петрановский, С.Г. Романов, Л.А. Самойлович. Кристаллография 38, 3, 111 (1993)
  2. В.Н. Богомолов, Т.М. Павлова. ФТП 29, 5, 826 (1995)
  3. В.Н. Богомолов, С.А. Ктиторов, Д.А. Курдюков, А.В. Прокофьев, С.М. Самойлович, Д.В. Смирнов. Письма в ЖЭТФ 61, 9, 738 (1995)
  4. W. Stober, A. Fink, E. Bohn. J. Colloid Interface Sci. 26, 62 (1968)
  5. В.Н. Богомолов, Д.А. Курдюков, А.В. Прокофьев, С.М. Самойлович. Письма в ЖЭТФ 63, 7, 496 (1996)
  6. V.N. Bogomolov, J.L. Hutchison, G.N. Mosina, L.M. Sorokin. Abstracts of invited lectures and contributed papers. Nanostructures: Physics and Technology. Int. Symposium. St.Petersburg, Russia (24--28 June 1996). Publish. St. P. INP RAS (1996). 125 с
  7. А. Гинье. Рентгенография кристаллов / Пер. под ред. акад. Н.В. Белова. Изд-во физ.-мат. лит., М. (1961). С. 584

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.