"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Структура и нелинейные оптические свойства пленок селенида цинка
Хомченко А.В.1
1Институт прикладной оптики АН Белоруссии, Могилев, Белоруссия
Поступила в редакцию: 19 марта 1996 г.
Выставление онлайн: 20 августа 1997 г.

Исследованы линейные и нелинейные свойства поликристаллических пленок селенида цинка в зависимости от условий их осаждения. Показана корреляция величины комплексного нелинейного показателя преломления и размеров кристаллитов в осаждаемой пленке, что позволяет рассматривать локализацию электронов на поверхностных состояниях кристаллитов как возможный механизм оптической нелинейности в пленках селенида цинка при их возбуждении в полосе прозрачности на длине волны 633 нм.
  • Апанасевич С.П., Гончарова О.В., Карпушко Ф.В., Синицин Г.В. // ЖПС. 1987. Т. 47. С. 200--225
  • Сотский А.Б., Хомченко А.В., Сотская Л.И. // Письма в ЖТФ. 1994. Т. 20. Вып. 16. С. 49--54
  • Калинкин И.П., Алесковский В.Б., Симашкевич А.В. Эпитаксиальные пленки соединений A-=SUP=-2-=/SUP=-B-=SUP=-6-=/SUP=-. Л.: Изд-во ЛГУ, 1978. 310 с
  • Редько В.П., Романенко А.А., Сотский А.Б., Хомченко А.В. // Письма в ЖТФ. 1992. Т. 18. Вып. 4. С. 14--18
  • Кристаллические оптические материалы. Каталог / Под ред. Г.Т. Петровского. М.: Дом оптики, 1982. С. 27--28
  • Yodo T., Koyoma T., Ueda H., Yamashita K. // J. Appl. Phys. Vol. 65. N 7. P. 2728--2733
  • Уманский Я.С., Сканов Ю.А., Шанов А.Н., Расторгуев Л.Н. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия. М.: Металлургия, 1982. 631 с
  • Drus L. // IEEE Jof Quant. Electr. 1986. Vol. 22. N 9. P. 1909--1915
  • Эфрос Ал.Л., Эфрос А.А. // ФТП. 1982. Т. 16. Вып. 7. С. 1209--1214
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.