Изучены магнитные, электрические и кристаллографические свойства эпитаксиальных пленок La_1-xSr_xMnO₃ (0.15=< x =< 0.23), выращенных на подложках из монокристаллических пластин (001) ZrO₂(Y₂O₃) со структурой флюорита и (001) LaAlO₃ со структурой перовскита. Оказалось, что близкие по составу пленки с x=0.15 и 0.16, выращенные на разных подложках, имеют различные свойства: пленка на флюоритной подложке имеет полупроводниковый тип проводимости и коэрцитивную силу в 30 раз большую, чем у пленки с перовскитной подложкой; у последней пленки температурная зависимость электросопротивления имеет максимум в районе точки Кюри T_C и металлический тип проводимости при T<T_C. Это объяснено различием в кристаллической структуре пленок. У пленки с x=0.23 на перовскитной подложке обнаружено сочетание колоссального отрицательного магнитосопротивления при комнатных температурах с удобным для практических применений сопротивлением ~ 300 Omega. Максимумы сопротивления и модуля отрицательного магнитосопротивления объяснены существованием магнитно-двухфазного состояния в указанных пленках.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.