Издателям
Вышедшие номера
Спектры отражения и оптические постоянные тонких квазикристаллических пленок Al--Cu--Fe в инфракрасной области
Яковлев В.А.1, Новикова Н.Н.1, Матеи Дж.2, Теплов А.А.3, Шайтура Д.С.3, Назин В.Г.3, Ласкова Г.В.3, Ольшанский Е.Д.3, Долгий Д.И.3
1Институт спектроскопии Российской академии наук, Троицк, Московская обл., Россия
2Istituto dei Sistemi Complessi ISC, CNR, C.P. 10, Monterotondo Sc. (RM), Italy
3Российский научный центр "Курчатовский институт", Москва, Россия
Email: teplov@isssph.kiae.ru
Поступила в редакцию: 10 марта 2005 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 2006 г.

Методом ИК-отражения в средней и дальней ИК-областях исследованы оптические свойства близких по составу квазикристаллических и для сравнения кристаллических пленок системы Al--Cu--Fe. Исследовались пленки толщиной 0.1-0.3 mum на сапфировых подложках. По экспериментальным данным рассчитана комплексная диэлектрическая проницаемость пленок. Обнаружено, что если для кристаллических пленок действительная часть диэлектрической проницаемости отрицательна, то для квазикристаллических пленок она положительна и слабо зависит от частоты, за исключением области вблизи 245 cm-1. Оптическая проводимость квазикристаллических пленок характеризуется отсутствием пика Друде, имеющегося в кристаллических пленках, и наличием пика при 245 cm-1, связанного, по-видимому, с возбуждением оптических фононов и отсутствующего в кристаллических пленках. Работа выполнена в рамках государственного контракта N 02.434.11.2011. PACS: 78.20.Ci, 78.66.Bz
  • D. Schechtmann, I. Blah, D. Gratias, J.W. Cahn. Phys. Rev. Lett. 53, 20, 1951 (1984)
  • T. Eisenhammer. Thin Solid Films 270, 1 (1995)
  • T. Eisenhammer, A. Mahr, A. Haugeneder, W. Assmann. Solar Energy Mater. Solar Cells 46, 53 (1997)
  • C.C. Homes, T. Timusk, X. Wu, Z. Altounian, A. Sahnoune, J.O. Strom-Olsen. Phys. Rev. Lett. 67, 19, 2694 (1991)
  • А.Ф. Прекул, Л.В. Номерованная, А.Б. Рольщиков, Н.И. Щеголихина, С.В. Ярцев. ФММ 82, 5, 75 (1996)
  • Д.С. Шайтура, А.Г. Домантовский, А.А. Теплов, Е.Д. Ольшанский. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования 6, 79 (2002)
  • X. Wu, C.C. Homes, S.E. Burkov, T. Timusk, F.S. Pierce, S.J. Poon, S.L. Cooper, M.A. Karlov. J. Phys.: Cond. Matter 5, 5975 (1993)
  • D.N. Basov, F.S. Price, P. Volkov, S.J. Poon, T. Timusk. Phys. Rev. Lett. 73, 13, 1865 (1994)
  • A.D. Bianchi, F. Bommeli, M.A. Chernikov, U. Gubler, L. Degiorgi, R.H. Ott. Phys. Rev. B 55, 9, 5730 (1997)
  • J.W. Chan, D. Shechtman, D. Gratias. J. Mater. Res. 1, 1, 13 (1986)
  • M. Kruger, S. Hilbrich, M. Thonissen, D. Scheyen, W. Theiss, H. Luth. Opt. Commun. 146, 309 (1998)
  • М. Борн, Э. Вольф. Основы оптики. Наука, М. (1970). 720 с
  • S.E. Burkov, T. Timusk, N.W. Ashcroft. J. Phys.: Cond. Matter 4, 9447 (1992)
  • S.E. Burkov, A.A. Varlamov, D.V. Livanov. Phys. Rev. B 53, 17, 11 504 (1996)
  • В. Юм-Розери. Введение в физическое металловедение. Металлургия, М. (1965). 203 с
  • V.G. Vaks, V.V. Kamushenko, G.D. Samolyuk. Phys. Lett. A 123, 131 (1988)
  • D. Mayou. Phys. Rev. Lett. 85, 6, 1290 (2000)
  • N.V. Smith. Phys. Rev. B 64, 155 106 (2001)
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.