Издателям
Вышедшие номера
Определение параметра решетки и одноэлектронного модельного потенциала соединения CdS с помощью спектров поглощения мягкого рентгеновского излучения
Мигаль Ю.Ф.1, Лаврентьев А.А.1, Габрельян Б.В.1, Никифоров И.Я.1
1Донской государственный технический университет, Ростов-на-Дону, Россия
Поступила в редакцию: 18 февраля 1998 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 1998 г.

Схема определения параметров структуры многоатомных систем с использованием спектров мягкого рентгеновского излучения (XANES), предложенная ранее, расширена на случай неметаллических кристаллических тел. С ее помощью по положениям максимумов одноэлектронного происхождения в K-спектре серы в соединении CdS определены параметр решетки и эмпирический muffin-tin-потенциал.
  • Yu.F. Migal. J. Phys. B: At. Mol. Opt. Phys. 27, 8, 1515 (1994)
  • Yu.F. Migal. Physica B208--209, 77 (1995)
  • Ю.Ф. Мигаль. ЖСХ 39, 1, 18 (1998)
  • Yu.F. Migal. J. Phys. IV France 7, C2--169 (1997)
  • Дж. Тэйлор. Теория рассеяния. Мир, М. (1975). 565 с
  • Yu.F. Migal. J. Phys. B: At. Mol. Opt. Phys. 26, 17, 2755 (1993)
  • В.П. Балтахинов. В кн.: Современная колебательная спектроскопия неорганических соединений. Наука, Новосибирск (1990). С. 243
  • А.А. Лаврентьев, И.Я. Никифоров. А.Б. Колпачев, Б.В. Габрельян. ФТТ 38, 8, 2347 (1996)
  • A.L. Ankudinov, J.J. Rehr. J. Phys. IV France 7, C2--121 (1997)
  • Физико-химические свойства полупроводниковых веществ. Справочник / Под ред. А.В. Новоселовой и В.Б. Лазарева. Наука, М. (1979). 340 с
  • Л.А. Грибов. ЖСХ 35, 4, 123 (1994)
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.