Вышедшие номера
Определение параметра решетки и одноэлектронного модельного потенциала соединения CdS с помощью спектров поглощения мягкого рентгеновского излучения
Мигаль Ю.Ф.1, Лаврентьев А.А.1, Габрельян Б.В.1, Никифоров И.Я.1
1Донской государственный технический университет, Ростов-на-Дону, Россия
Поступила в редакцию: 18 февраля 1998 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 1998 г.

Схема определения параметров структуры многоатомных систем с использованием спектров мягкого рентгеновского излучения (XANES), предложенная ранее, расширена на случай неметаллических кристаллических тел. С ее помощью по положениям максимумов одноэлектронного происхождения в K-спектре серы в соединении CdS определены параметр решетки и эмпирический muffin-tin-потенциал.
  1. Yu.F. Migal. J. Phys. B: At. Mol. Opt. Phys. 27, 8, 1515 (1994)
  2. Yu.F. Migal. Physica B208--209, 77 (1995)
  3. Ю.Ф. Мигаль. ЖСХ 39, 1, 18 (1998)
  4. Yu.F. Migal. J. Phys. IV France 7, C2--169 (1997)
  5. Дж. Тэйлор. Теория рассеяния. Мир, М. (1975). 565 с
  6. Yu.F. Migal. J. Phys. B: At. Mol. Opt. Phys. 26, 17, 2755 (1993)
  7. В.П. Балтахинов. В кн.: Современная колебательная спектроскопия неорганических соединений. Наука, Новосибирск (1990). С. 243
  8. А.А. Лаврентьев, И.Я. Никифоров. А.Б. Колпачев, Б.В. Габрельян. ФТТ 38, 8, 2347 (1996)
  9. A.L. Ankudinov, J.J. Rehr. J. Phys. IV France 7, C2--121 (1997)
  10. Физико-химические свойства полупроводниковых веществ. Справочник / Под ред. А.В. Новоселовой и В.Б. Лазарева. Наука, М. (1979). 340 с
  11. Л.А. Грибов. ЖСХ 35, 4, 123 (1994)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.