Полевое испарение сплава Hf--Mo (15 весовых % Hf) исследовалось с помощью времяпролетного атомного зонда. Умеренно прогретое острие обнаружило на поверхности примесь окислов Hf и Mo. Термополевые микровыступы, выращенные при температуре T=1440-1850 K и в электрическом поле (тормозящем электроны) напряженностью E=(3.2-5)·107 V / cm анализировались при комнатной и более высоких температурах.
Мюллер Э.В., Цонг Т.Т. Полевая ионная микроскопия, полевая ионизация и полевое испарение. М.: Наука, 1980. 220 с
Golubev O.L., Kontorovich E.L., Shrednik V.N., Vlasov Yu.A. Nanostructures: Physics and Technology. Abstracts of Invited Lectures and Contributed Papers. Intern. Symposium. St. Petersburg, Russia. 1994. P. 223--234
Власов Ю.А., Павлов В.Г., Шредник В.Н. // Письма в ЖТФ. 1986. Т. 12. Вып. 9. С. 548--552
Vlasov Yu.A., Golubev O.L., Shrednik V.N. // J. de Phys. 1988. Vol. 49. Colloque C6. Supplement N 11. S. C6-131--C6-136
Golubev O.L., Kontorovich E.L., Shrednik V.N. // 8-=SUP=-th-=/SUP=- Intern. Vacuum Microelectronics Conf. Portland (Oregon, USA), 1995. Technical digest. P. 447--449
Голубев О.Л., Конторович Е.Л., Шредник В.Н. // ЖТФ. 1996. Т. 66. Вып. 3. С. 97--106
Миллер М., Смит Г. Зондовый анализ в автоионной микроскопии. М.: Мир, 1993. 301 с
Butenko V.G., Vlasov Yu.A., Golubev O.L., Shrednik V.N. // Surf. Sci. 1992. Vol. 266. P. 165--169
Логинов М.В., Шредник В.Н. // ЖТФ. 1997. Т. 67. Вып. 9. С. 102--109
Логинов М.В., Савельев О.Г., Шредник В.Н. ЖТФ. 1994. Т. 64. Вып. 8. С. 123--131
Фоменко В.О., Подчерняева И.А. Эмиссионные и адсорбционные свойства веществ и материалов (справочник). М.: Атомиздат, 1975. 320 с
Muller E.W. // Ergebn. d. exakten Naturwiss. 1953. Bd. 27. S. 290--360
Власов Ю.А., Голубев О.Л., Шредник В.Н. // Изв. АН СССР. Сер. физ. 1988. Т. 52. N 8. С. 1538--1543
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2017 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук