Основное отличие предложенного метода от ранее использовавшихся состоит в измененной схеме взаимного расположения луча накачки и зондирующего луча. В нем используются скрещивающиеся в объеме образца лучи. Этим достигается локальность измерений одноверменно с возможностью исследования любой точки образца. На основе анализа теоретических и экспериментальных результатов выявлены и объяснены основные различия в методиках определения коэффициента температуропроводности в диэлектриках и в полупроводниках.
Patrick Echegut Mocroscopic Approach of Thermooptical Properties. 14-=SUP=-th-=/SUP=- ECTP Conf. Lyon-Villeurbanne (France), 1996. P. 55
Schwingel D., Taylor R., Wigren J. // Conference Book of 14-=SUP=-th-=/SUP=- ECTP. Lyon-Volleurbanne (France), 1996. P. 101
Filatov A., Mirgorodsky V., Sablicov V. // Semicond. Sci. Technol. 1993. Vol. 8. P. 694
Dersch Helmut, Amer Nabil M. // Appl. Phys. Lett. 1985. Vol. 47. P. 292
Mirgorodsky V.I., Orlova G.A., Filatov A.L. // Zh. Tekh. Fiz. 1992. Vol. 62. P. 180
Миргородский В.И., Новичихин Е.В., Сабликов В.А. и др. // ЖТФ. 1994. Т. 64. Вып. 1. С. 174--179
Jellison G.E., Jr., Burke H.H. // J. Appl. Phys. 1986. Vol. 60. N 2. P. 841
Dash W.C., Newman R. // Phys. Rev. 1955. Vol. 99. N 4. P. 1151--1155
Григорьев И.В., Мейлихов Е.З. // Физические величины. Справочник. М.: Энергоиздат, 1991. 1232 с
Кикоин И.К. // Таблицы физических величин. Справочник. М.: Атомиздат, 1976. 1006 с
Olmstead M., Amer N., Kohn S. et al. // Appl. Phys. A. 1983. Vol. 32. P. 141--154
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.