Предложен новый механизм процессов в структурах металл--изолятор--металл с нанометровыми размерами изолятора. Анализируется зависимость теоретической вольт-амперной характеристики от температуры подложки и сравнивается с экспериментальными результатами.
Pagnia H., Sotnik N. // Phys. Stat. Sol. (a). 1988. Vol. 108. N 11. P. 11--65
Мордвинцев В.М., Левин В.Л. // ЖТФ. 1994. Т. 64. Вып. 12. С. 88--100
Мордвинцев В.М., Левин В.Л. // ЖТФ. 1996. Т. 66. Вып. 7. С. 83--95
Мордвинцев В.М., Левин В.Л. // ЖТФ. В печати
Валиев К.А., Левин В.Л., Мордвинцев В.М. // ЖТФ. 1997. В печати
Pagnia H., Sotnik N., Wirth W. // Int. J. Electron. 1990. Vol. 69. N 1. P. 25--32
Simmons J.G., Verderber R.R. // Proc. Roy. Soc. A. 1967. Vol. 301. P. 77--102
Модинос А. Авто-, термо- и вторично-электронная эмиссионная спектроскопия. М.: Наука, 1990. 319 с
Симмонс Дж.Г. Технология тонких пленок / Под ред. Л. Майссела, Р. Глэнга. Т. 2. М.: Сов. радио, 1977. 764 с
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.