Basu S.N., Roy T., Mitchell T.E., Muenchausen R.E., Nastasi M. // Science and Technology of Thin Film Superconductor 2. N.Y.: Plenum, 1990. P. 341--349
Norton M.G., Carter C.B., Moeckly B.H. et al. // Science and Technology of Thin Film Superconductor 2. N.Y.: Plenum, 1990. P. 379--387
Ramesh R., Iham A., Hwang D.M., Sands T.D., Chang C.C., Hart O.L. // Appl. Phys. Lett. 1991. V. 58. N 14. P. 1559--1561
Hollmann E.K., Zaitsev A.G., Loginov V.E. et al. // J. Phys. D: Appl. Phys. 1992. V. 25. N 3. P. 504--505
Гольман Е.К., Гольдрин В.И., Плоткин Д.А. и др. // ФТТ. 1997. Т. 39. N 2. C. 216--218
Афросимов В.В., Дзюба Г.О., Ильин Р.Н. и др. // СФХТ. 1991. Т. 4. N 9. C. 1767--1777
Афросимов В.В., Дзюба Г.О., Ильин Р.Н. и др. // ЖТФ. 1996. Т. 66. N 12. C. 76--88
Feldman L.C., Mayer J.W., Picraux S.R. Material Analysis by Ion Channeling. N.Y.: Academic Press, 1982. 300 p
Ishiwara H., Furukawa S. // J. Appl. Phys. 1976. V. 47. N 4. P. 1686--1689
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.