Издателям
Вышедшие номера
Фототрансформация пленок C60 в присутствии и в отсутствие кислорода
Макарова Т.Л.1, Сахаров В.И.1, Серенков И.Т.1, Вуль А.Я.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 23 июля 1998 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 1999 г.

На пленках фуллеренов C60, полученных дискретным испарением в квазизамкнутом объеме, методами эллипсометрии и резерфордовского обратного рассеяния исследованы состав и структура, а также изменения, вызванные воздействием лазерного излучения. Исходная пленка характеризуется присутствием стабильного верхнего слоя толщиной 150 Angstrem и соотношением атомов углерода и кислорода 10 : 1. Формирование нерастворимой фототрансформированной фазы происходит при экспозиции как в вакууме, так и на воздухе, однако во втором случае изменение показателя преломления указывает на образование соединений с кислородом. Полной полимеризации материала не происходит, несмотря на то что структурные изменения прекращаются при дозе излучения, равной 104 фотонов на молекулу фуллерена. Обработка полимеризованной фазы в органических растворителях приводит к формированию пористой структуры, причем фракция пустот составляет 48% в случае экспозиции в вакууме и 30% при экспозиции на воздухе.
  • Y. Iwasa, T. Arima, R.M. Fleming, T. Siegrist, O. Zhou, R.C. Haddon, L.J. Rothberfg, K.B. Lyons, H.L. Carter, Jr., A.F. Hebard, R. Tycko, G. Dabbagh, J.J. Kraewskii, G.A. Thomas, T. Yagi. Science 264, 1570 (1994)
  • A.M. Rao, P.K. Zhou, K.A. Wang, G.T. Hager, J.M. Holden, Y. Wang, W.T. Lee, X.-X. Bi, P.C. Eklund, D.C. Cornett, M.A. Duncan, I.J. Amster. Science 259, 955 (1993)
  • Y.B. Zhao, D.M. Poirier, R.J. Pechman, J.H. Weaver. Appl. Phys. Lett. 64, 577 (1994)
  • M.S. Dresselhaus, G. Dresselhaus, P.C. Elkund. J. Raman Spectr. 27, 351 (1996)
  • Y. Wang, J.M. Holden, A.M. Rao, P.C. Eklund, U.D. Ventkateswaran, D. Eastwood, R.L. Lidberg, G. Dresselhaus, M.S. Dresselhaus. Phys. Rev. B 51, 4547 (1995)
  • M. Nunes-Requeiro, L. Marques, J.-L. Hodeau, O. Bethous, M. Perroux. Phys. Rev. Lett. 74, 278 (1995)
  • В.А. Давыдов, Л.С. Кашеварова, А.В. Рахманина, В.Н. Агафонов, Р. Сеоля, А. Шварк. Письма в ЖЭТФ 63, 778 (1996)
  • J. Onoe, K. Takeuchi. Phys. Rev. Lett. 79, 2987 (1997)
  • T.L. Makarova, N.V. Seleznev, I.B. Zakharova, T.I. Zubkova. Mol. Mat. 10, 105 (1998)
  • R.M.A. Azzam, N.M. Bashara. Ellipsometry and polarized light. North Holland, Amsterdam (1977). 583 p
  • T.L. Makarova. Mol. Mat. 7, 199 (1996)
  • P.C. Eklund, A.M. Rao, P. Zhou, Y. Wang, J.M. Holden. Thin Sol. Films 257, 185 (1995)
  • P. Zhou, A.M. Rao, K.-A. Wang, J.D. Robertson, C. Eloi, M.S. Meier, S.L. Ren, X.-X. Bi, P.C. Eklund, M.S. Dresselhaus. Appl. Phys. Lett. 60, 2871 (1992)
  • D.A.G. Bruggemann. Ann. Phys. 24, 636 (1935)
  • W.K. Chu, J. Majer, M.-A. Nickolet. Backscattering spectrometry. Academic press, N. Y. (1978). 384 p
  • H. Werner, M. Wohlers, D. Bublak, T. Beltz, W. Bensh, R. Schlogl. In: Electronic properties of fullerenes / Ed. H. Kuzmany et al. Springer Ser. Sol. State Sci. Berlin (1993). V. 117. P. 16
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.