Кратко описана методика исследования временных и спектральных характеристик детектора мягкого рентгеновского излучения в интервале энергий фотонов от нескольких десятков до тысячи электрон-вольт. Представлены измеренные характеристики (время нарастания сигнала, временное разрешение, абсолютная спектральная чувствительность) и определенные по результатам измерений параметры (толщины контактного, "мертвого" и чувствительного слоев) некоторых типов быстрых кремниевых p-i-n-фотодиодов различных производителей (Siemens, Hamamatsu, Motorola, НИИИТ / Москва), которые могут быть использованы в аппаратуре для рентгеновской диагностики плазмы с временным разрешением около 1 ns и лучше.
1 Cuderman J.F., Glibert K.M. // Rev. Sci. Instr. 1975. Vol. 46. P. 53--57
Hohlfelder J.J. // Adv. in X-ray Analysis. 1973. Vol. 17. P. 531--541
Альбиков З.А., Белик В.П., Бобашев С.В. и др. // Диагностика плазмы / Под ред. М.И. Пергамента. Вып. 6. М.: Атомиздат, 1989. С. 48--52
Renner O., Krousky E., Pina L. // Czech. J. Phys. 1992. Vol. 42. P. 1--9
Jach T., Cowan P.L. // Nucl. Instr. and Meth. 1983. Vol. 208. P. 423--426
Fiedorowicz H., Parys P., Ryc L. // Proc. SPIE. 1989. Vol. 1140. P. 91--94
Pina L. // Czech. J. Phys. 1985. Vol. A35. P. 363--367
Corallo D.M., Creek D.M., Murray G.M. // J. Phys. E. 1980. Vol. 13. P. 623--626
Scholze F., Rabus H., Ulm G. // Appl. Phys. Lett. 1996. Vol. 69. P. 2974--2976
Tegeler E. // Physica Scripta. 1990. Vol. T31. P. 215--222
Henke B.L., Gullikson E.M., Davis J.C. // At. Data Nucl. Data Tables. 1993. Vol. 54. P. 181--342
Rabus H., Persch V., Ulm G. // Appl. Optics. 1997. Vol. 36. P. 5421--5440
Bobashev S.V., Shmaenok L.A. // Rev. Sci. Instr. 1981. Vol. 51. P. 16--20
Gullikson E.M., Korde R., Canfield L.R. et al. // J. Electr. Spectr. Rel. Phenom. 1996. Vol. 80. P. 313--316
Krumrey M. and Tegeler E. // rev. Sci. Instr. 1992. Vol. 63. P. 797--801
Bobashev S.V., Volkov G.S., Golubev A.V. et al. // Physica Scripta. 1991. Vol. 43. P. 356--366
Бобашев С.В., Голубев А.В., Мосесян Д.А. и др. // ЖТФ. 1995. Т. 65. Вып. 10. С. 62--73
Hebach M., Simanovskii D., Bobashev S. et al. // Plasma Sourc. Sci. Technol. 1993. Vol. 2. P. 296--300
Krejci A., Raus J. Piffl V. et al. // IEEE Trans. Plasma Sci. 1993. Vol. 21. P. 584--587
Golubev A.V., Krejci A. Soft-X-rays of Nitrogen Z-pinch. Res. Rep. IPPCZ-352. Prague, 1995. 18 p
Сорокин А.А., Шмаенок Л.А., Белик В.П. и др. // Письма в ЖТФ. 1996. Т. 22. Вып. 4. С. 15--24
Pivinskii E., Akulinichev V., Gorbunov V. // Proc. SPIE. 1997. Vol. 2986. P. 231--238
Акулиничев В.В., Мавричев М.Е., Пивинский Е.Г. // Опт. и спектр. 1994. Т. 76. С. 681--684
Новицкий Л.А., Степанов Б.М. // Фотометрия быстропротекающих процессов. М.: Машиностроение, 1983. 296 с
Stradling G.L., Attwood D.T., Kauffman R.L. // IEEE J. Quantum Electron. 1983. Vol. QE-19. P. 604--615
Полупроводниковые детекторы в экспериментальной физике / Под ред. Ю.К. Акимова. М.: Энергоатомиздат, 1989. 344 с
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.