Характеристики тонкопленочного датчика сканирующего магнитного микроскопа на основе сквида
Кириченко Д.Е.1, Паволоцкий А.Б.1, Прохорова И.Г.1, Снигирев О.В.1
1Московский государственный университет им М.В. Ломоносова, Москва, Россия
Выставление онлайн: 19 июня 1999 г.
Приводятся описания конструкции, технологии изготовления и характеристики датчика сканирующего магнитного микроскопа (СММ) на основе тонкопленочного сквида постоянного тока с шунтируванными туннельными джозефсоновскими переходами Nb / Al2O3 / Nb. Показано, что при температуре образца 4.2 K пространственное разрешение данного датчика составляет 10 mum при разрешении по полю на уровне 70 pT/Hz1/2.
Jeffery M., Van Duzer T., Kirtley J.R. // Appl. Phys. Lett. 1995. Vol. 67. P. 1769--1771
Tsuei C.C., Kirtley J.R., Rupp M. et al. // Science. 1996. Vol. 271. P. 329
Ketchen M.B., Kirtley J.R., Bhushan M. // IEEE Trans. on Appl. Supercond. 1997. Vol. 7. N 2. P. 3139--3142
Kirichenko D.E., Pavolotskij A.B., Prokhorova I.G. et al. // Inst. Phys. Conf. Ser. N 158. Applied Superconductivity. IOP Publishing Ltd., 1997. P. 727--730
Tesche C.D., Clarke J. // J. Low Temp. Phys. 1977. Vol. 29. P. 301--331
Enpuku K., Koch H. // Jap. J. Appl. Phys. 1993. Vol. 32. P. 3811-3816
Enpuku K., Cantor R., Koch H. // J. Appl. Phys. 1992. Vol. 71. N 5. P. 2338--2346
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2017 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук