Вышедшие номера
Анализ коэффициента усиления и исследование люминесцентных свойств гетероструктур Si / Si1-xGex : Er / Si, полученных методом сублимационной молекулярно-лучевой эпитаксии в газовой фазе
Красильникова Л.В.1, Степихова М.В.1, Дроздов Ю.Н.1, Дроздов М.Н.1, Красильник З.Ф.1, Шенгуров В.Г.2, Чалков В.Ю.2, Светлов С.П.2, Гусев О.Б.3
1Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия
2Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского государственного университета, Нижний Новгород, Россия
3Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: luda@ipm.sci-nnov.ru
Выставление онлайн: 20 декабря 2004 г.

Приводятся результаты исследований структур Si / Si1-xGex : Er / Si, выращенных методом сублимационной молекулярно-лучевой эпитаксии (МЛЭ) в газовой фазе. Исследуемые структуры рассматриваются в качестве одного из вариантов структур для реализации лазера на Si / Er. Показано, что методом сублимационной МЛЭ в газовой фазе можно создавать эффективные светоизлучающие структуры, обнаруживающие интенсивный сигнал люминесценции на длине волны 1.54 mum. Для структур Si / Si1-xGex : Er / Si с параметрами, близкими к рассчитанным для создания структур лазерного типа, проведены структурный и элементный анализ, исследованы спектральные и кинетические особенности фотолюминесценции при температурах 4.2 и 77 K. Показано, что в слоях Si1-xGex : Er, выращенных этим методом, доля оптически активных ионов Er3+ достигает ~10% от полного содержания эрбиевой примеси. Согласно проведенным оценкам, значения коэффициентов оптического усиления в активных слоях Si1-xGex : Er (x=0.1 и 0.02) составили ~0.03 и ~0.2 cm-1. Значительное увеличение коэффициента усиления в структурах этого типа возможно за счет направленного формирования изолированных оптически активных центров иона Er3+ с характерной тонкой структурой спектра люминесценции. Работа выполнена при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (гранты N 02-02-16773, 04-02-17120) и INTAS (проекты N NANO-01-0444, 03-51-6486).
  1. Silicon-Based Optoelectronics / Ed. S. Coffa, L. Tsybeskov. MRS Bull. 23, 4, 16 (1998)
  2. Z.F. Krasilnik, V.Ya. Aleshkin, B.A. Andreev, O.B. Gusev, W. Jantsch, L.V. Krasilnikova, D.I. Kryzhkov, V.P. Kuznetsov, V.G. Shengurov, V.B. Shmagin, N.A. Sobolev, M.V. Stepikhova, A.N. Yablonsky. Towards the First Silicon Laser / Ed. L. Pavesi, S. Gaponenko, L. Dal Negro. NATO Sci. Ser. II. Mathematics, Physics and Chemistry. Kluwer Academic Publ., Dordrecht (2003). Vol. 93. P. 445
  3. B. Andreev, V. Chalkov, O. Gusev, A. Emel'yanov, Z. Krasil'nik, V. Kuznetsov, P. Pak, V. Shabanov, V. Shengurov, V. Shmagin, N. Sobolev, M. Stepikhova, S. Svetlov. Nanotechnology 13, 97 (2002)
  4. N.Q. Vinh, H. Przybylinska, Z.F. Krasil'nik, T. Gregorkiewicz. Phys. Rev. Lett. 90, 6, 0 664 011 (2003)
  5. С.П. Светлов, В.Г. Шенгуров, В.Ю. Чалков, З.Ф. Красильник, Б.А. Андреев, Ю.Н. Дроздов. Изв. РАН. Сер. физ. 65, 2, 203 (2001)
  6. R. Serna, Jung H. Shin, M. Lohmeier, E. Vlieg, A. Polman, P.F.A. Alkemade. J. Appl. Phys. 79, 5, 2658 (1996)
  7. Б.А. Андреев, З.Ф. Красильник, В.П. Кузнецов, А.О. Солдаткин, М.С. Бреслер, О.Б. Гусев, И.Н. Яссиевич. ФТТ 43, 6, 979 (2001)
  8. P.B. Klein, G.S. Pomrenke. Electron. Lett. 24, 24, 1502 (1988)
  9. В.Я. Алешкин, Б.А. Андреев, З.Ф. Красильник. В сб. тр. совещ. "Нанофотоника-2002". Н. Новгород (2002). С. 289
  10. H. Przybylinska, W. Jantsch, Yu. Suprun-Belevitch, M. Stepikhova, L. Palmetshofer, G. Hendorfer, A.Kozanecki, R.J. Wilson, B.J. Sealy. Phys. Rev. B 54, 4, 2532 (1996)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.