В широком интервале максимальных нагрузок (от 5 до 100 mN) изучено их влияние на значения твердости, модуля упругости и упругого возврата, оцениваемые из результатов опытов по наноиндентированию наноструктурных нитридоборидных пленок толщиной 1-2 mum. Показано, что при малых нагрузках (5-30 mN) только показатели твердости становятся постоянными. Полученные данные обсуждены и сопоставлены с результатами определений другими методами. Работа выполнена при поддержке программ ИНТАС (проект N 96-2232) и "Интеграция" (проект N 855), а также программы сотрудничества Российской академии наук и Шведской Королевской академии наук.
А.П. Терновский, В.П. Алехин, М.Х. Шоршоров, М.М. Хрущев, В.Н. Скворцов. Завод. лаб. 39, 1242 (1973)
С.И. Булычев, В.П. Алехин, М.Х. Шоршоров, А.П. Терновский, Г.Д. Шнырев. Завод. лаб. 41, 1137 (1975)
С.И. Булычев, В.П. Алехин, М.Х. Шоршоров, А.П. Терновский. Проблемы прочности 9, 79 (1976)
Ю.С. Боярская, Д.З. Грабко, М.С. Кац. Физика процессов микроиндентирования. Штиинца, Кишинев (1986). 234 с
С.И. Булычев, В.П. Алехин. Испытание материалов непрерывным вдавливанием индентора. Машиностроение, М. (1990). 224 с
M.F. Doerner, W.D. Nix. J. Mater. Res. 1, 601 (1986)
W.C. Oliver, G.M. Pharr. J. Mater. Res. 7, 1564 (1992)
E. Soderlund, D.J. Rowcliffe. J. Hard Mater. 5, 149 (1994)
J. Menchik, D. Munz, E. Quandt, E. Weppelmann, M. Swain. J. Mater. Res. 12, 2475 (1997)
Р.А. Андриевский. Успехи химии 66, 57 (1997)
Ю.И. Головин, А.И. Тюрин. Кристаллография 40, 884 (1995)
Р.А. Андриевский, А.М. Глезер. ФММ 88, 50 (1999)
Р.А. Андриевский, Г.В. Калинников, Н.П. Кобелев, Я.М. Сойферв, Д.В. Штанский. ФТТ 39, 1859 (1997)
Р.А. Андриевский, Г.В. Калинников, Д.В. Штанский. ФТТ 42, 4, 741 (2000)
G.M. Pharr, W.C. Oliver, F.R. Brotzen. J. Mater. Res. 7, 613 (1992)
H. Liungcrantz, C. Engstrom, L. Hultman, M. Olsson, X. Chu, M.S. Wong, W.D. Sproul. J. Vac. Sci. Technol. A16, 3104 (1998)
B. Jonsson, S. Hogmark. Thin Solid Films 114, 257 (1984)
Ю.В. Мильман. Проблемы прочности 6, 52 (1990)
X. Wang, A.K. Kolitsch, W. Moller. Appl. Phys. Lett. 71, 1951 (1997)
R.A. Andrievski. In: Surface-Controlled Nanoscale Materials for High-Added-Value Applications / Ed. by K.E. Gonsalves, M.-E. Baraton, R. Singh, H. Hofmann, J. Chen, J. Akkara. MRS, Warrendale (1998). Vol. 501. P. 149
R.A. Andrievski. J. Solid State Chemistry 133, 249 (1997)
Р.А. Андриевский, С.А. Аманулла, Е.Дж. Брукс, Г.В. Калинников, А.Ф. Потафеев. Неорган. материалы 31, 1600 (1995)
G. Shafirstein, M. Gee, S. Osgerby, S. Saunders. In: Thin Films --- Stresses and Mechanical Properties V / Ed. by Sh. Baker, C. Ross, P. Townsend, C. Volkert, P. Borgesen. MRS, Warrendale (1995). Vol. 356. P. 717