"Журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Исследование шумов p+-n-детекторов жестких излучений техникой амплитудного анализа
Иванов А.М.1, Строкан Н.Б.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 1 декабря 1998 г.
Выставление онлайн: 20 января 2000 г.

На примере кремниевых p+-n-детекторов ионов показаны возможности изучения шума техникой амплитудного анализа. Предлагается использовать в качестве параметра ток детектора и варьировать его подсветкой образца. По дробовому шуму фототока проводится также калибровка установки. Критериями дробового характера шума служат линейный ход квадрата шума от тока и значение наклона данной зависимости. Показано, что стандартная для амплитудного анализа аппаратура позволяет проводить точное и одновременно экспрессное исследование шума. Для излученных детекторов установлено отсутствие фликер-шума даже при увеличении на порядок величины заряда, встроенного в защитный окисел.
  • Ван дер Зил А. Шум: источники, описание, измерение. М.: Сов. радио, 1973. 225 с
  • Gillespie A.B. Signal, Noise and Resolution in Nuclear Counter Amplifiers. London: Pergamon Press Ltd., 1953. P. 155
  • Tsukuda M. // Nucl. Instr. Meth. 1961. Vol. 14. N 3. P. 241--251
  • Вербицкая Е.М., Еремин В.К., Маляренко А.М. и др. // ФТП. 1993. Т. 27. Вып. 11--12. С. 2052--2067
  • Eremin V., Ilyashenko I., Malyarenko A. et al. Electrochem. Soc. Ser. High Purity Silicon IV / Ed. C.L. Claeys. Penningtonm, 1996. Vol. 96-13. P. 395--406
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.