Журнал технической физики

Авторам

Правила оформления публикаций

Вышедшие номера

2024
- 1 2 3 4 5
2023
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2022
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2021
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2020
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2019
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2018
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2017
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2016
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2015
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2014
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2013
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2012
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2011
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2010
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2009
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2008
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2007
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2006
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2005
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2004
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2003
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2002
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2001
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2000
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1999
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1998
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1997
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1996
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1995
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1994
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1993
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1992
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1991
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1990
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1989
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1988
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Муаровая дефектоскопия повышенной чувствительности при сравнении композитных периодических структур

Ляликов А.М.¹

¹Гродненский государственный университет им. Янки Купалы, Гродно, Беларусь Yanka Kupala Grodno State University, Grodno, Belarus

Поступила в редакцию: 27 марта 2000 г.

Выставление онлайн: 19 апреля 2001 г.

PDF версия

Абстракт
Литература
Статистика просмотров

Предлагается для муаровой визуализации макроскопических дефектов композитных периодических структур при сравнении исследуемой структуры с эталонной в качестве последней использовать перезаписанные снимки раздельно каждой структуры. Перезапись снимков при выделении комплексно-сопряженных порядков дифракции света позволяет на конечном этапе получения муаровой картины повышать чувствительность измерений.

Havanesian I., Hung Y.Y. // Appl. Optics. 1971. Vol. 10. N 12. P. 2734--2738
Сухарев И.П., Ушаков Б.Н. Исследование деформаций и напряжений методом муаровых полос. М.: Машиностроение, 1969. 208 с
Wadworth N., Marchant M., Billing B. // Opt. Laser Technol. 1973. Vol. 5. N 3. P. 119--123
Власов Н.Г., Штанько А.Е. // Материалы IX Всесоюз. школы по голографии. Л.: ЛИЯФ, 1977. С. 256--266
Ляликов А.М. // Опт. и спектр. 1999. Т. 86. N 3. С. 489--492
Ляликов А.М., Серенко М.Ю. // ЖТФ. 1999. Т. 69. Вып. 10. С. 126--130
Буть А.И., Ляликов А.М. // Квантовая электрон. 1996. Т. 23. N 4. С. 381--382
Ляликов А.М. // Оптич. журнал. 1998. Т. 65. N 3. С. 54--57
Швидер Ж. // Материалы III Всесоюз. школы по голографии. Л.: ЛИЯФ, 1972. С. 247--254
Зейликович И.С., Спорник Н.М. Голографическая диагностика прозрачных сред. Минск: Университетское изд-во, 1988. 208 с
Зейликович И.С., Ляликов А.М. // УФН. 1991. Т. 161. N 1. С. 143--164
Вест Ч. Голографическая интерферометрия. М.: Мир, 1982. С. 504

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель