Проведен анализ достоинств и недостатков метода автоматического анализа картин дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD) по сравнению с просвечивающей электронной микроскопией (ПЭМ) при изучении пространственного распределения ориентировок. Осуществлено сравнительное экспериментальное исследование спектра разориентировок с помощью ПЭМ- и EBSD-анализа модельного материала (сплав нихром H20X80) с повышенным содержанием двойников отжига. Работа выполнена при поддержке РФФИ (проекты 04-02-16129, 04-02-97261, 04-02-17627).
С.А. Салтыков. Стереометрическая металлография. Металлургия, М. (1976). 271 с
С.С. Горелик, Ю.А. Скаков, Л.Н. Расторгуев. Рентгенографический и электронно-оптический анализ. МИСИС, М. (1994). 328 с
В.В. Рыбин. Большие пластические деформациии и разрушение металлов. Металлургия, М. (1986). 224 с
В.Ю. Герцман, В.Н. Даниленко, Р.З. Валиев. ФММ 68, 2, 348 (1989)
B.L. Adams, S.I. Wright, K. Kunze. Met. Trans. 24A, 819 (1993)
N.C.K. Lassen, K. Conradsen, D. Juul-Jensen. Scanning Microscopy 6, 115 (1992)
A. Gholinia, P.B. Prangnell, M.V. Markushev. Acta Mat. 48, 1115 (2000)
М.А. Штремель. Прочность сплавов. Часть I. Дефекты решетки. МИСИС, М. (1999). С. 326
И.И. Крюков, Е.В. Нестерова, В.В. Рыбин, А.И. Рыбников. ФММ 52, 4, 880 (1981)
A. Vorhauer, T. Hebesberger, R. Pippan. Acta Mat. 51, 677 (2003)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.