Нанометровая модификация материала методом электродинамической локализации оптического излучения
Козлов В.А.1,2, Оболенский С.В.1,2, Китаев М.А.1,2
1Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского
2Институт физики микроструктур РАН, Нижний Новгород
Email: obolensk@rf.unn.runnet.ru
Поступила в редакцию: 24 июня 2001 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2001 г.
Предложен метод электродинамической локализации оптического излучения с помощью заостренных металлических объектов, позволяющий модифицировать материалы на размерах, существенно меньших длины волны излучения.
Оболенский С.В., Китаев М.А. // ПЖТФ. 2000. Т. 26. В. 10. С. 13--16
Ландау Л.Д., Лифшиц Е.М. Электродинамика сплошных сред. М.: Наука, 1982. 475 с
Ваганов Р.Б., Каценеленбаум Б.Э. Основы теории дифракции. М.: Наука, 1982. 283 с
Фелсен Л., Маркувиц Н. Излучение и рассеяние волн. М.: Мир, 1978. 428 с
Мандельштам Л.И. Лекции по теории колебаний. М.: Наука, 1972. 384 с
Гинзбург В.Л., Мотулевич Г.П. // УФН. 1955. Т. 55. N 3. С. 469--473
Handbook of optical constants of solids / Ed. by E. Palik. Academic press, 1985. 687 с
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.