Описан рост нитевидных нанокристаллов (ННК) серебра на поверхности пленки из AgI, полученной методом лазерной абляции. Исследование проводилось на растровом электронном микроскопе Zeiss Merlin. Методом рентгеноcпектрального микроанализа исследован химический состав ННК. Оценена скорость роста ННК. Рассмотрены возможные механизмы роста ННК серебра под действием электронного пучка.
Burley G. // Am. Mineral. 1963. Vol. 48. N 6. P. 1266-1276
Yaroslavtsev A.B. // Russ. Chem. Rev. 2009. Vol. 78. N 11. P. 1013-1029
Chernov S.F. // Opt. Spectros. 1985. Vol. 59. N 3. P. 563-566
Укше Е.А., Букун Н.Г. Твердые электролиты. М.: Наука, 1977. 175 с
Wakamura K. // Sol. Stat. Ionics. 2009. Vol. 180. N 26-27. P. 1343-1349
Gurney R.W., Mott N.F. // Proc. Roy. Soc. (A). 1938. Vol. 164. N 917. P. 151-167
Babcock T.A., Fergusson P. M., James T.H. // Phot. Sci. Eng. 1975. Vol. 19. N 1. P. 49-54
Картужанскай А.Л. // УФН. 1954. Т. 50, N 3, С. 341-376
Mitchell J.W. // Rep. Prog. Phys. 1957. Vol. 20. N 1. P. 433-515. (Митчелл Дж.У. // УФН. 1959. Т. 67. N 2. С. 293-337; УФН. 1959. Т. 67. N 3. С. 505-541)
Митчелл Э. Фотография: Пер. с англ. М.: Мир, 1988. 420 с
Uvanov N.F., Vanek P. , Savinov M., Zelezny V., Studnicka V., Petzelt J. // Stat. Ionics. 2000. Vol. 127. N 3-4. P. 253-267
Liang C.C. // J. Electrochem. Soc. 1973. Vol. 120. P. 1289-1298
Maier J. Sol. Stat. Ionics. 2002. Vol. 154-155. P. 291-301
Maier J. Sol. Stat. Ionics. 2002. Vol. 148. P. 367-374
Sata N., Jin-Phillipp N.Y., Eberl K., Maier J. // Sol. Stat. Ionics. 2002. Vol. 154-155. P. 497-502
Tver'yanovich Yu.S., Bal'makov M.D., Tomaev V.V., Borisov E.N., Volobueva O. // Glass Phys. Chem. 2008. Vol. 34. N 2. P. 150-154
Tomaev V.V., Tver'yanovich Yu.S., Bal'makov M.D., Zvereva I.A., Missyul' A.B. // Glass Phys. Chem. 2010. Vol. 36. N 4. P. 455-462
Tomaev V.V., Tver'yanovich Yu.S., Bal'makov M.D. // Crystallogr. Rep. 2012. Vol. 57. N 7. P. 948-954
Tomaev V.V., Tver'yanovich Yu.S., Bal'makov M.D. // Glass Phys. Chem. 2012. Vol. 38. N 1. P. 155-161
Дубровский В.Г., Цырлин Г.Э., Устинов В.М. // ФТП. 2009. Т. 43. Вып. 12. С. 1585-1628
Dubrovskii V.G., Sibirev N.V., Cirlin G.E. // Tech. Phys. Lett. 2004. Vol. 30. N 8. P. 682-689
Sibirev N.V., Nazarenko M.V., Cirlin G.E., Samsonenko Yu.B., Dubrovskii V.G. // Semiconductors. 2010. Vol. 44. N 1. P. 112-115
Lubov M.N., Kulikov D.V., Trushin Yu.V. // Tech. Phys. 2010. V. 55. N 1. P. 85-91
Xu L., Dong B., Wang Y., Bai X., Liu Q., Song H. // Sens. Actuat. B.-Chem. 2010. Vol. 147. P. 531-538
Lim S.K., Hwang S., Chang D., Kim S. // Sensor. Actuat. B.-Chem. 2010. Vol. 149. P. 28-33
Budak S., Miao G.X. // J. Cryst. Growth. 2006. Vol. 291. P. 405-411
Zhang Y., Yu K., Li G., Peng D., Zhang Q., Xu F., Bai W., Ouyang S., Zhu Z. // Mater. Lett. 2006. Vol. 60. N 25. P. 3109-3112
Lettieri S., Bismuto A., Maddalena P. , Nanobelts // J. Non Cryst. Solids. 2006. Vol. 352. P. 1457-1460
Акопян И.Х., Лабзовская М.Э., Новиков Б.В., Цаган-Манджиева Д.А. // ЖТФ. 2012. Т. 82. Вып. 2. С. 63-67
Мошников В.А., Томаев В.В. // Изв. СПбГЭТУ "ЛЭТИ". 2003. N 1. С. 10-15
Tomaev V.V., Petrov Yu.V. // Glass Phys. Chem. 2012. Vol. 38. N 3. P. 339-346
Барщевский Б.У. // УФН. 2001. Т. 171. N 4. С. 415-433
Практическая растровая электронная микроскопия / Под ред. Дж. И. Гоулдстейна и Х. Яковица. М.: Мир, 1978. 650 с
Drouin D., Couture A., Joly D., Tastet X., Aimez V., Gauvin R. // Scanning. 2007. Vol. 29. P. 92-101
Рид С.Дж.Б. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии. М.: Техносфера, 2008. 232 с
Мотт Н., Герни Р. Электронные процессы в ионных кристаллах М.: ИЛ., 1950. 304 с
Wagner R.S., Ellis W.C. // Appl. Phys. Lett. 1964. Vol. 4. N 5. P. 89-90